面向规则磁片的三维尺寸检测技术研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 课题背景 | 第10-12页 |
| 1.2 课题的目的和意义 | 第12-13页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第13-14页 |
| 1.4 本文组织结构 | 第14-16页 |
| 第2章 相机标定相关技术研究 | 第16-34页 |
| 2.1 引言 | 第16-17页 |
| 2.2 相机成像模型 | 第17-24页 |
| 2.2.1 坐标变换与成像变换 | 第17-18页 |
| 2.2.2 相机的镜头畸变 | 第18-21页 |
| 2.2.3 相机成像模型 | 第21-24页 |
| 2.3 经典相机标定方法 | 第24-31页 |
| 2.3.1 相机标定的透视变换法 | 第24-27页 |
| 2.3.2 相机标定的Tsai两步法 | 第27-31页 |
| 2.3.3 相机标定的像素当量法 | 第31页 |
| 2.4 相机标定实现 | 第31-33页 |
| 2.5 本章小结 | 第33-34页 |
| 第3章 图像预处理相关技术研究 | 第34-43页 |
| 3.1 图像滤波处理 | 第34-39页 |
| 3.1.1 图像噪声的来源 | 第34-35页 |
| 3.1.2 经典图像滤波器 | 第35-37页 |
| 3.1.3 基于规则磁片图像的混合滤波算法研究 | 第37-39页 |
| 3.2 图像边缘检测处理 | 第39-42页 |
| 3.2.1 经典图像边缘检测算法 | 第39-41页 |
| 3.2.2 图像边缘检测算法的选择 | 第41-42页 |
| 3.3 本章总结 | 第42-43页 |
| 第4章 图像尺寸测量技术研究 | 第43-52页 |
| 4.1 引言 | 第43页 |
| 4.2 直线检测与磁片厚度图像特征尺寸测量 | 第43-49页 |
| 4.2.1 直线检测 | 第43-46页 |
| 4.2.2 磁片厚度与侧面倾斜角测量 | 第46-49页 |
| 4.3 圆形检测与磁片上表面图像特征尺寸测量 | 第49-51页 |
| 4.3.1 圆形检测 | 第49-50页 |
| 4.3.2 磁片上表面半径测量与体积求解 | 第50-51页 |
| 4.4 本章小结 | 第51-52页 |
| 第5章 磁片尺寸检测系统的设计与实现 | 第52-66页 |
| 5.1 硬件设计方案 | 第52-57页 |
| 5.1.1 硬件参数选择 | 第52-56页 |
| 5.1.2 实验平台搭建 | 第56-57页 |
| 5.2 软件设计方案 | 第57-61页 |
| 5.2.1 软件开发环境 | 第57-58页 |
| 5.2.2 软件系统检测流程 | 第58-59页 |
| 5.2.3 软件系统总体界面设计 | 第59-61页 |
| 5.3 实验结果与数据分析 | 第61-65页 |
| 5.3.1 实验结果分析 | 第61-64页 |
| 5.3.2 误差理论分析 | 第64-65页 |
| 5.4 本章小结 | 第65-66页 |
| 结论 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-72页 |
| 攻读硕士学位期间发表论文及科研成果 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
