| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| 1.1 课题研究背景和意义 | 第10-12页 |
| 1.1.1 NAND Flash发展概述 | 第10-11页 |
| 1.1.2 NAND Flash控制器概述 | 第11-12页 |
| 1.1.3 eMMC前景 | 第12页 |
| 1.2 论文主要工作和结构安排 | 第12-14页 |
| 第二章 eMMC控制器技术概述 | 第14-25页 |
| 2.1 NAND Flash存储介质特点 | 第14-15页 |
| 2.1.1 一次存取与擦除单位特殊 | 第14页 |
| 2.1.2 数据不支持就地更新 | 第14页 |
| 2.1.3 页面写入顺序固定 | 第14-15页 |
| 2.1.4 NAND Flash使用寿命有限 | 第15页 |
| 2.2 eMMC协议概述 | 第15-18页 |
| 2.3 eMMC控制器技术概述 | 第18-24页 |
| 2.3.1 增强的擦除操作 | 第18页 |
| 2.3.2 性能提升机制 | 第18-20页 |
| 2.3.3 NAND Flash可靠性与耐久性提升技术 | 第20-24页 |
| 2.4 本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 eMMC控制器设计 | 第25-45页 |
| 3.1 eMMC控制器设计目标 | 第25页 |
| 3.2 eMMC控制器架构设计 | 第25-31页 |
| 3.2.1 数据处理模块 | 第26-28页 |
| 3.2.2 命令处理与管理模块 | 第28-31页 |
| 3.3 eMMC控制器关键技术实现 | 第31-44页 |
| 3.3.1 地址映射技术 | 第32-38页 |
| 3.3.2 Trim功能与垃圾回收实现 | 第38-40页 |
| 3.3.3 坏块管理技术实现 | 第40-42页 |
| 3.3.4 磨损均衡实现 | 第42-44页 |
| 3.4 本章小结 | 第44-45页 |
| 第四章 eMMC控制器验证 | 第45-61页 |
| 4.1 集成电路设计验证方案概述 | 第45页 |
| 4.2 eMMC控制器验证方案 | 第45-59页 |
| 4.2.1 测试环境 | 第46页 |
| 4.2.2 测试验证过程 | 第46-59页 |
| 4.3 eMMC控制器原型资源占用情况 | 第59-60页 |
| 4.4 本章小结 | 第60-61页 |
| 第五章 总结与展望 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 附件 | 第67页 |