| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第6-11页 |
| 1.1 应用背景与研究意义 | 第6-7页 |
| 1.2 面向UHF RFID的温度传感器国内外研究现状 | 第7-8页 |
| 1.3 论文的主要研究内容与挑战 | 第8-10页 |
| 1.4 论文的结构安排 | 第10-11页 |
| 第二章 高精度温度传感器的系统级设计 | 第11-22页 |
| 2.1 温度传感器的性能指标 | 第11-12页 |
| 2.2 温度测量原理 | 第12-19页 |
| 2.2.1 理想双极型晶体管温度特性分析 | 第12-13页 |
| 2.2.2 高精度温度传感器架构中ADC的选择 | 第13-17页 |
| 2.2.2.1 过采样和噪声整形 | 第14-16页 |
| 2.2.2.2 电荷平衡原理 | 第16-17页 |
| 2.2.3 温度传感器系统构架分析 | 第17-19页 |
| 2.3 系统中误差的分配 | 第19-21页 |
| 2.4 本章小结 | 第21-22页 |
| 第三章 CMOS温度传感器误差来源分析 | 第22-35页 |
| 3.1 模拟感温部分误差源分析 | 第22-31页 |
| 3.1.1 核心感温电路中电流镜失配的影响 | 第22-23页 |
| 3.1.2 饱和电流I_S的影响 | 第23-26页 |
| 3.1.2.1 饱和电流工艺波动影响分析 | 第24页 |
| 3.1.2.2 饱和电流固有温度特性分析 | 第24-26页 |
| 3.1.3 电流增益 β_F的影响 | 第26-29页 |
| 3.1.3.1 有限的电流增益影响分析 | 第27-28页 |
| 3.1.3.2 电流增益随工艺波动影响分析 | 第28-29页 |
| 3.1.4 偏置电流的影响 | 第29-31页 |
| 3.1.4.1 偏置电流的选取 | 第29-30页 |
| 3.1.4.2 偏置电路中钳位运放失调电压的影响 | 第30页 |
| 3.1.4.3 偏置电路中电流镜失配的影响 | 第30-31页 |
| 3.2 Σ-ΔADC中误差源分析 | 第31-34页 |
| 3.3 本章小结 | 第34-35页 |
| 第四章 误差消除技术 | 第35-46页 |
| 4.1 动态失调与 1/f噪声消除技术 | 第35-39页 |
| 4.1.1 斩波技术基本原理 | 第35-36页 |
| 4.1.2 嵌套式斩波技术 | 第36-38页 |
| 4.1.3 自调零技术 | 第38-39页 |
| 4.2 电流增益 β_F引起误差消除技术 | 第39-41页 |
| 4.3 电流镜失配影响消除技术 | 第41-42页 |
| 4.4 饱和电流引起的误差的消除 | 第42-43页 |
| 4.5 TRIM技术 | 第43-44页 |
| 4.6 本章小结 | 第44-46页 |
| 第五章 电路实现与仿真结果 | 第46-63页 |
| 5.1 低噪声低功耗嵌套式斩波运算放大器设计 | 第46-49页 |
| 5.2 PTAT偏置电流产生电路设计与仿真 | 第49-52页 |
| 5.2.1 PTAT偏置电流产生电路整体设计 | 第49-50页 |
| 5.2.2 箝位运放的设计 | 第50-52页 |
| 5.3 核心感温电路实现与仿真 | 第52-55页 |
| 5.4 Σ-Δ 调制器的实现与仿真 | 第55-62页 |
| 5.5 本章小结 | 第62-63页 |
| 第六章 总结与展望 | 第63-64页 |
| 6.1 本文工作总结 | 第63页 |
| 6.2 进一步工作展望 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-70页 |
| 附录 | 第70-71页 |