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面向UHF RFID的高精度温度传感器设计

摘要第4-5页
Abstract第5页
第一章 绪论第6-11页
    1.1 应用背景与研究意义第6-7页
    1.2 面向UHF RFID的温度传感器国内外研究现状第7-8页
    1.3 论文的主要研究内容与挑战第8-10页
    1.4 论文的结构安排第10-11页
第二章 高精度温度传感器的系统级设计第11-22页
    2.1 温度传感器的性能指标第11-12页
    2.2 温度测量原理第12-19页
        2.2.1 理想双极型晶体管温度特性分析第12-13页
        2.2.2 高精度温度传感器架构中ADC的选择第13-17页
            2.2.2.1 过采样和噪声整形第14-16页
            2.2.2.2 电荷平衡原理第16-17页
        2.2.3 温度传感器系统构架分析第17-19页
    2.3 系统中误差的分配第19-21页
    2.4 本章小结第21-22页
第三章 CMOS温度传感器误差来源分析第22-35页
    3.1 模拟感温部分误差源分析第22-31页
        3.1.1 核心感温电路中电流镜失配的影响第22-23页
        3.1.2 饱和电流I_S的影响第23-26页
            3.1.2.1 饱和电流工艺波动影响分析第24页
            3.1.2.2 饱和电流固有温度特性分析第24-26页
        3.1.3 电流增益 β_F的影响第26-29页
            3.1.3.1 有限的电流增益影响分析第27-28页
            3.1.3.2 电流增益随工艺波动影响分析第28-29页
        3.1.4 偏置电流的影响第29-31页
            3.1.4.1 偏置电流的选取第29-30页
            3.1.4.2 偏置电路中钳位运放失调电压的影响第30页
            3.1.4.3 偏置电路中电流镜失配的影响第30-31页
    3.2 Σ-ΔADC中误差源分析第31-34页
    3.3 本章小结第34-35页
第四章 误差消除技术第35-46页
    4.1 动态失调与 1/f噪声消除技术第35-39页
        4.1.1 斩波技术基本原理第35-36页
        4.1.2 嵌套式斩波技术第36-38页
        4.1.3 自调零技术第38-39页
    4.2 电流增益 β_F引起误差消除技术第39-41页
    4.3 电流镜失配影响消除技术第41-42页
    4.4 饱和电流引起的误差的消除第42-43页
    4.5 TRIM技术第43-44页
    4.6 本章小结第44-46页
第五章 电路实现与仿真结果第46-63页
    5.1 低噪声低功耗嵌套式斩波运算放大器设计第46-49页
    5.2 PTAT偏置电流产生电路设计与仿真第49-52页
        5.2.1 PTAT偏置电流产生电路整体设计第49-50页
        5.2.2 箝位运放的设计第50-52页
    5.3 核心感温电路实现与仿真第52-55页
    5.4 Σ-Δ 调制器的实现与仿真第55-62页
    5.5 本章小结第62-63页
第六章 总结与展望第63-64页
    6.1 本文工作总结第63页
    6.2 进一步工作展望第63-64页
致谢第64-65页
参考文献第65-70页
附录第70-71页

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