摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6页 |
符号对照表 | 第12-13页 |
缩略语对照表 | 第13-16页 |
第一章 绪论 | 第16-22页 |
1.1 选题背景及研究意义 | 第16-18页 |
1.2 国内外研究现状 | 第18-20页 |
1.3 本文的研究内容及内容安排 | 第20-22页 |
第二章 紧耦合相控阵理论研究 | 第22-50页 |
2.1 无限周期阵列的研究方法 | 第22-38页 |
2.1.1 Floquet级数简介 | 第22-26页 |
2.1.2 无限周期阵列的Floquet激励及Floquet模 | 第26-31页 |
2.1.3 无限周期阵列TE模与TM模 | 第31-33页 |
2.1.4 实例:矩形单元阵列的模式分解及模阻抗求解 | 第33-38页 |
2.2 阵元间距的大小对阵列天线的影响对比 | 第38-40页 |
2.3 紧耦合相控阵的演进历程 | 第40-48页 |
2.3.1 Wheeler的电流片模型 | 第40-41页 |
2.3.2 阵列天线加接地板对天线性能的影响 | 第41-42页 |
2.3.3 Munk的紧耦合阵列天线理论 | 第42-46页 |
2.3.4 对Munk模型进一步完善 | 第46-48页 |
2.4 本章小结 | 第48-50页 |
第三章 紧耦合相控阵单元设计 | 第50-68页 |
3.1 紧耦合相控阵单元的等效电路模型分析 | 第50-56页 |
3.2 紧耦合相控阵单元馈电结构设计 | 第56-63页 |
3.2.1 馈电结构一双线平衡器 | 第56-59页 |
3.2.2 馈电结构二切比雪夫渐变平衡器 | 第59-63页 |
3.3 紧耦合相控阵单元结构优化 | 第63-66页 |
3.4 本章小结 | 第66-68页 |
第四章 紧耦合相控阵阵列设计及样机测试 | 第68-82页 |
4.1 半无限阵列仿真 | 第68-74页 |
4.1.1 阵列截断效应补偿 | 第69-71页 |
4.1.2 阵列的相扫分析 | 第71-74页 |
4.2 2×8 有限阵列仿真 | 第74-77页 |
4.3 样机加工与测试 | 第77-81页 |
4.3.1 1 分16宽带功分器加工 | 第78-79页 |
4.3.2 版图设计及测试 | 第79-81页 |
4.4 本章小结 | 第81-82页 |
第五章 总结与展望 | 第82-84页 |
参考文献 | 第84-88页 |
致谢 | 第88-90页 |
作者简介 | 第90-91页 |