基于光场技术的三维测量系统的实现
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-16页 |
| 1.1 课题研究的背景及意义 | 第9-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-15页 |
| 1.2.1 光场相机的发展历程及研究现状 | 第12-13页 |
| 1.2.2 光场三维测量的研究现状 | 第13-15页 |
| 1.3 主要内容和结构安排 | 第15-16页 |
| 第2章 光场三维测量的基本理论 | 第16-30页 |
| 2.1 光场的定义 | 第16页 |
| 2.2 光场的采集与记录 | 第16-20页 |
| 2.2.1 针孔光场模型 | 第17页 |
| 2.2.2 斯坦福多相机阵列模型 | 第17-18页 |
| 2.2.3 微透镜光场模型 | 第18-20页 |
| 2.3 相机成像规律简介 | 第20-22页 |
| 2.3.1 凸透镜成像规律 | 第20-21页 |
| 2.3.2 平行光入射凸透镜成像规律 | 第21-22页 |
| 2.4 重聚焦的基本理论 | 第22-26页 |
| 2.4.1 数字对焦与数字变焦 | 第22页 |
| 2.4.2 数字重聚焦的原理 | 第22-26页 |
| 2.5 对焦测距原理 | 第26页 |
| 2.6 相机标定原理 | 第26-28页 |
| 2.7 渐晕的简介 | 第28-29页 |
| 2.8 本章小结 | 第29-30页 |
| 第3章 光场三维成像的关键技术 | 第30-38页 |
| 3.1 本文采用的光场系统的参数介绍 | 第30页 |
| 3.2 拜耳传感器的基本构造 | 第30-31页 |
| 3.3 图像存储数据类型转换 | 第31页 |
| 3.4 图像的色彩插值 | 第31-35页 |
| 3.4.1 双线性插值算法 | 第32-33页 |
| 3.4.2 梯度校正的线性内插 | 第33-35页 |
| 3.5 图像的二值化 | 第35页 |
| 3.6 图像的Canny边缘检测 | 第35页 |
| 3.7 图像上圆点的Hough变换 | 第35-36页 |
| 3.8 等效35mm焦距简介 | 第36-37页 |
| 3.9 本章小结 | 第37-38页 |
| 第4章 光场的提取及解码 | 第38-48页 |
| 4.1 光场的提取 | 第38-44页 |
| 4.1.1 光场原始图像的简介 | 第39-42页 |
| 4.1.2 网格模型的生成 | 第42页 |
| 4.1.3 光场原始图像的处理 | 第42-44页 |
| 4.2 光场的解码及保存 | 第44-47页 |
| 4.3 本章小结 | 第47-48页 |
| 第5章 光场重聚焦与三维重建 | 第48-59页 |
| 5.1 光场重聚焦 | 第48-51页 |
| 5.1.1 光场图像的合成 | 第48-50页 |
| 5.1.2 重聚焦图像的合成 | 第50-51页 |
| 5.2 三维重建 | 第51-58页 |
| 5.2.1 对光场相机进行标定 | 第51-53页 |
| 5.2.2 采样点像距的求解 | 第53-57页 |
| 5.2.3 三维坐标系中的重建 | 第57-58页 |
| 5.3 本章小结 | 第58-59页 |
| 结论 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 作者简介 | 第64页 |
