锡酸镧钡薄膜的光电特性研究及半导体材料电学测试系统的设计
| 摘要 | 第1-8页 |
| Abstract | 第8-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-23页 |
| ·研究背景 | 第13-14页 |
| ·紫外可见吸收光谱技术 | 第14-15页 |
| ·电学表征技术 | 第15-16页 |
| ·BLSO薄膜的制备 | 第16-17页 |
| ·硕士期间主要工作 | 第17-18页 |
| ·变温环境下BLSO的光学及电学特性 | 第17页 |
| ·实验室测试系统搭建 | 第17-18页 |
| ·本文主要内容 | 第18-20页 |
| 参考文献 | 第20-23页 |
| 第二章 BLSO薄膜光学特性 | 第23-37页 |
| ·薄膜材料的光学色散关系 | 第23-24页 |
| ·Tauc-Lorentz色散关系 | 第23页 |
| ·Drude-Lorentz色散关系 | 第23-24页 |
| ·变温条件下薄膜紫外透射光谱 | 第24-28页 |
| ·变温条件下薄膜介电函数 | 第28-31页 |
| ·能带随温度变化机理分析 | 第31-34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 参考文献 | 第35-37页 |
| 第三章 BLSO薄膜电学特性 | 第37-43页 |
| ·变温条件下薄膜电阻率 | 第37-38页 |
| ·薄膜电迁移机理分析 | 第38-40页 |
| ·本章小结 | 第40-41页 |
| 参考文献 | 第41-43页 |
| 第四章 变温I-V特性曲线测试系统的搭建 | 第43-49页 |
| ·系统设备构成 | 第43-45页 |
| ·系统整体架构 | 第43页 |
| ·电学测试系统 | 第43-44页 |
| ·温度控制系统 | 第44-45页 |
| ·系统程序设计 | 第45-48页 |
| ·程序需求分析 | 第45页 |
| ·程序设计方案 | 第45-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 第五章 压电测试系统的搭建 | 第49-53页 |
| ·系统设备构成 | 第49-50页 |
| ·程序设计方案 | 第50-52页 |
| ·程序需求分析 | 第50页 |
| ·程序设计方案 | 第50-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第六章 总结与展望 | 第53-57页 |
| ·总结 | 第53-55页 |
| ·展望 | 第55-57页 |
| 附录Ⅰ 硕士期间科研成果 | 第57-59页 |
| 附录Ⅱ 致谢 | 第59页 |
