基于FPGA的动态光散射纳米粒度测量方法的研究
摘要 | 第1-10页 |
ABSTRACT | 第10-12页 |
第1章 绪论 | 第12-18页 |
·研究背景及意义 | 第12-13页 |
·国内外发展概况 | 第13-16页 |
·颗粒粒度测量方法的发展 | 第13-14页 |
·动态光散射理论的发展 | 第14页 |
·光子相关器的发展 | 第14-16页 |
·本论文研究的主要内容 | 第16页 |
·本章小结 | 第16-18页 |
第2章 动态光散射理论及相关器结构 | 第18-26页 |
·动态光散射理论 | 第18-19页 |
·PCS 技术在粒径测量上的应用 | 第19-22页 |
·相关器的原理及结构 | 第22-25页 |
·线性相关器的原理及结构 | 第22-24页 |
·指数相关器的原理及结构 | 第24-25页 |
·本章小结 | 第25-26页 |
第3章 多延时可调数字相关器的 FPGA 实现 | 第26-40页 |
·现场可编程门阵列 | 第26-28页 |
·VERILOG HDL 语言及其设计方法 | 第28-30页 |
·多延时可调数字相关器的原理及结构 | 第30-38页 |
·双脉冲计数器的实现 | 第33-34页 |
·IODELAY 的实现 | 第34页 |
·移位寄存器的实现 | 第34-35页 |
·乘法器的实现 | 第35页 |
·累加器的实现 | 第35-36页 |
·前置加法器的实现 | 第36页 |
·FIFO 的实现 | 第36-37页 |
·复位部分的实现 | 第37-38页 |
·串口通信部分的实现 | 第38页 |
·本章小结 | 第38-40页 |
第4章 归一化处理及粒径反演算法 | 第40-54页 |
·相关函数曲线的影响因素 | 第40-42页 |
·归一化处理 | 第42-43页 |
·平均粒径反演算法 | 第43-49页 |
·累积量法 | 第43-44页 |
·Gauss-Newton 法 | 第44-46页 |
·Levenberg-Marquardt 算法 | 第46-49页 |
·粒径分布反演算法 | 第49-52页 |
·迭代 Tikhonov 正则化 | 第49-50页 |
·基于偏差原则决定正则参数 | 第50-51页 |
·基于偏差原则和快速算法决定正则参数 | 第51-52页 |
·本章小结 | 第52-54页 |
第5章 上位机设计及算法仿真 | 第54-68页 |
·实验平台的搭建 | 第54-55页 |
·上位机的设计 | 第55-58页 |
·粒径分布算法仿真 | 第58-67页 |
·单峰分布的算法仿真 | 第59-65页 |
·双峰分布的算法仿真 | 第65-67页 |
·本章小结 | 第67-68页 |
第6章 总结与展望 | 第68-70页 |
·总结 | 第68-69页 |
·展望 | 第69-70页 |
参考文献 | 第70-74页 |
致谢 | 第74-76页 |
在学期间主要科研成果 | 第76页 |
一、发表学术论文 | 第76页 |
二、其它科研成果 | 第76页 |