摘要 | 第1-7页 |
Abstract | 第7-10页 |
目录 | 第10-13页 |
第1章 绪论 | 第13-25页 |
·铁基超导材料的发现及特性 | 第13页 |
·铁基超导体的研究进展与现状 | 第13-21页 |
·铁基超导体的研究现状 | 第13-18页 |
·1111 类型的铁基超导体的优势和特点 | 第18-19页 |
·1111 类型铁基超导体的制备技术概况 | 第19-21页 |
·铁基超导线带材制备技术 | 第21页 |
·论文研究的目的、意义及研究内容 | 第21-25页 |
·论文研究的目的及意义 | 第21-22页 |
·论文研究内容 | 第22-25页 |
第2章 实验制备设备和分析方法 | 第25-35页 |
·样品制备设备 | 第25-26页 |
·手套箱 | 第25页 |
·真空封管设备 | 第25-26页 |
·物相分析 | 第26-27页 |
·表面形貌分析 | 第27-28页 |
·微观结构分析 | 第28-30页 |
·透射电子显微镜 | 第28-29页 |
·扫描隧道显微镜(STM) | 第29-30页 |
·超导性能分析 | 第30-35页 |
·临界转变温度(Tc)测量 | 第30-32页 |
·测量设备与原理 | 第32-33页 |
·外加磁场下临界电流密度(Jc)的测量 | 第33-35页 |
第3章 SmO_(1-x)F_xFeAs 超导块材的制备与性能研究 | 第35-71页 |
·SmO_(1-x)F_xFeAs 超导块材的制备工艺 | 第35-38页 |
·一步固相反应工艺流程 | 第35-36页 |
·两步固相反应工艺流程 | 第36-38页 |
·固相反应制备 SmO_(1-x)F_xFeAs 超导块材的研究 | 第38-53页 |
·一步固相反应制备 SmO_(1-x)F_xFeAs 超导块材的研究 | 第38-42页 |
·两步固相反应制备 SmO_(1-x)F_xFeAs 超导块材的研究 | 第42-53页 |
·F 过掺杂 SmO_(1-x)F_xFeAs 超导块材的研究 | 第53-58页 |
·F 欠掺杂 SmO1-xFδFeAs 超导块材的研究 | 第58-61页 |
·Ag 掺杂铁基超导体 SmO_(0.7)F_(0.3)FeAs 的研究 | 第61-69页 |
·铁基超导体 SmO_(0.7)F_(0.3)FeAs 的 Ag 掺杂的原理和设计思路 | 第61页 |
·Ag 掺杂对样品结构的影响 | 第61-63页 |
·Ag 掺杂对 SmO_(0.7)F_(0.3)FeAs 性能的影响 | 第63-69页 |
·本章小结 | 第69-71页 |
第4章 SPS 技术制备铁基超导体的研究 | 第71-93页 |
·实验方案的提出 | 第71页 |
·SPS 技术制备工艺 | 第71-76页 |
·等离子体烧结技术的原理 | 第71-73页 |
·放电等离子烧结优点 | 第73页 |
·等离子体烧结技术的工艺设备 | 第73页 |
·等离子体烧结技术的工艺流程 | 第73-74页 |
·等离子体烧结工艺参数的控制 | 第74-75页 |
·SPS 新型模具的设计 | 第75-76页 |
·SPS 技术制备铁基超导体 SmO_(1-x)F_xFeAs 的预处理 | 第76页 |
·初始粉末的制备 | 第76页 |
·SmO_(1-x)F_xFeAs 样品的预处理 | 第76页 |
·SPS 方法制备 SmO_(0.7)F_(0.3)FeAs 超导块材的研究 | 第76-83页 |
·热处理温度对 SmO_(0.7)F_(0.3)FeAs 样品微观结构的影响 | 第76-78页 |
·热处理时间对样品微观结构的影响 | 第78-81页 |
·压力对样品微观结构的影响 | 第81-83页 |
·SPS 方法制备的 SmO_(0.7)F_(0.3)FeAs 样品的电磁性能分析 | 第83-91页 |
·超导临界转变温度的分析 | 第83-84页 |
·SmO_(0.7)F_(0.3)FeAs 超导样品的微观结构分析 | 第84-85页 |
·临界电流密度的分析 | 第85-88页 |
·钉扎力密度的分析 | 第88-89页 |
·上临界场的分析 | 第89-91页 |
·本章小结 | 第91-93页 |
第5章 铁基超导体 SmO_(1-x)F_xFeAs 线带材制备的研究 | 第93-111页 |
·线带材的制备方法 | 第93-95页 |
·常规 PIT 制备方法 | 第93-94页 |
·优化的 PIT 方法 | 第94-95页 |
·Fe 套管 SmO_(0.7)F_(0.3)FeAs 超导线材结构和性能的研究 | 第95-98页 |
·Fe/Ag 复合套管 SmO_(0.7)F_(0.3)FeAs 超导线材的结构和性能研究 | 第98-102页 |
·SmO_(0.7)F_(0.3)FeAs 超导带材制备的研究 | 第102-109页 |
·SmO_(0.7)F_(0.3)FeAs 超导带材微观结构的分析 | 第103-105页 |
·SmO_(0.7)F_(0.3)FeAs 超导带材性能的研究 | 第105-109页 |
·本章小结 | 第109-111页 |
第6章 SmO_(0.7)F_(0.3)FeAs 临界电流密度的 Campbell 法研究 | 第111-131页 |
·Campbell 法原理 | 第111-114页 |
·SPS 方法制备的 SmO_(0.7)F_(0.3)FeAs 块材样品的 Jc的 Campbell 法研究 | 第114-117页 |
·不同频率交流场下 SmO_(0.7)F_(0.3)FeAs 样品的’ vs. Bac关系 | 第114-115页 |
·对应不同’ vs. Bac曲线得到的 Jc-B 关系曲线 | 第115-117页 |
·两步固相反应制备的 SmO_(0.7)F_(0.3)FeAs 样品 Campbell 法分析 | 第117-119页 |
·不同频率交流场下 SmO_(0.7)F_(0.3)FeAs 样品’ vs. Bac的关系 | 第117-118页 |
·对应不同’ vs. Bac曲线得到的 Jc-B 关系曲线 | 第118-119页 |
·PIT 方法制备的 SmO_(0.7)F_(0.3)FeAs 带材 Campbell 法分析 | 第119-122页 |
·一定频率交流场下样品的’ vs. Bac关系 | 第119-121页 |
·对应不同的’ vs. Bac关系曲线得到的 Jc-B 关系 | 第121-122页 |
·Campbell 法结果和直流磁化法结果的比较 | 第122-123页 |
·SmO_(0.7)F_(0.3)FeA 的 Jc和晶粒连接性的有限元技术分析研究 | 第123-128页 |
·随机缺陷 SmO_(0.7)F_(0.3)FeAs 样品的微观结构的模拟 | 第123页 |
·SmO_(0.7)F_(0.3)FeAs 样品磁通渗透过程的模拟 | 第123-126页 |
·由 SmO_(0.7)F_(0.3)FeAs 样品微观结构模拟出的’ vs. Bac关系曲线 | 第126-127页 |
·SmO_(0.7)F_(0.3)FeAs 样品的 Jc同缺陷含量的关系曲线 | 第127页 |
·计算结果与试验结果的比较 | 第127-128页 |
·本章小节 | 第128-131页 |
结论 | 第131-133页 |
展望 | 第133-135页 |
参考文献 | 第135-145页 |
攻读博士学位期间所取得的成果 | 第145-147页 |
致谢 | 第147页 |