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基于ARM的电能质量检测装置的研究

摘要第1-5页
Abstract第5-6页
目录第6-9页
1 绪论第9-13页
   ·电能质量的概述第9-11页
   ·课题研究的意义第11页
   ·电能质量检测装置的国内外现状和发展趋势第11-12页
   ·本论文研究解决的问题及工作内容第12-13页
2 电能质量的谐波分析方法第13-30页
   ·FFT 谐波分析概述第13-14页
   ·基于加窗、插值的 FFT 谐波分析方法第14-21页
     ·常用余弦窗函数特性研究及其选取第15-17页
     ·FFT 分析中双峰插值法的应用第17-21页
   ·基于纳托尔自卷积窗的相位差 FFT 谐波分析的研究与实现第21-29页
     ·离散频谱的相位差校正法第21-23页
     ·离散余弦窗的自卷积窗第23-27页
     ·基于纳托尔自卷积窗的相位差校正法仿真分析第27-29页
   ·本章小结第29-30页
3 基于 ARM(LPC2292)的电能质量检测装置硬件电路设计与实现第30-49页
   ·电能质量检测装置硬件总体设计第30-31页
   ·ARM7 处理器第31页
   ·基于 ADS8364 数据采集模块的设计与实现第31-40页
     ·ADS8364 原理特性第32-33页
     ·数据采集检测调理电路的设计与实现第33-38页
     ·ADS8364 与 ARM7 的连接电路第38-40页
   ·SD 卡存贮模块电路的设计与实现第40-43页
     ·SD 卡的 SPI 总线模式第41-42页
     ·微控制器 LPC2292 与 SD 卡的 SP 模式接口电路第42-43页
   ·液晶显示模块电路的设计与实现第43-44页
   ·以太网传输模块电路的设计与实现第44-47页
     ·以太网控制器 RTL8019AS第44-46页
     ·RTL8019AS 与 LPC2292 的接口电路第46-47页
   ·扩展外设的片选电路的设计与实现第47-48页
   ·本章小节第48-49页
4 电能质量检测装置系统软件设计第49-68页
   ·μC/OS-II 操作系统第49-51页
     ·μC/OS-II 操作系统概述第50页
     ·μC/OS-II 操作系统的移植第50-51页
   ·ADS1.2 集成开发环境第51-52页
     ·CodeWarrior IDE 集成开发环境第51-52页
     ·AXD 调试器简述第52页
   ·AD 采样程序模块第52-54页
   ·FFT 数据处理程序模块第54-56页
     ·按时间抽取的基 2 FFT 算法的实现第54页
     ·纳托尔自卷积窗的实现第54-55页
     ·相位差校正法的实现第55页
     ·FFT 数据处理主程序第55-56页
   ·SD 卡本地存贮程序模块第56-60页
     ·SD 软件模块整体框架第56-57页
     ·SD 卡软件模块的硬件参数配置第57-58页
     ·SD 软件模块包的接口函数第58-60页
     ·SD 卡存贮模块主程序第60页
   ·液晶显示程序模块第60-64页
     ·液晶显示软件模块接口函数第60-62页
     ·液晶模块初始化第62-63页
     ·液晶显示模块主程序第63-64页
   ·以太网传输程序模块第64-67页
     ·以太网软件模块结构框图第64页
     ·模块接口函数第64-65页
     ·以太网模块的硬件参数配置第65-66页
     ·RTL8019AS 芯片初始化第66-67页
     ·以太网传输软件模块主函数第67页
   ·本章小结第67-68页
5 系统误差分析、抗干扰及系统测试第68-71页
   ·系统误差分析及抗干扰第68-69页
     ·系统误差分析第68-69页
     ·系统的抗干扰第69页
   ·系统测试第69-70页
   ·本章小结第70-71页
6 总结与展望第71-72页
参考文献第72-74页
攻读硕士期间发表学术论文和参与科研项目情况第74-75页
附录 系统硬件实物图第75-76页
致谢第76-77页

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