K208玻璃基镀膜透镜质子电子辐照效应及机理研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-27页 |
| ·课题背景及意义 | 第10-11页 |
| ·空间环境概述 | 第11-14页 |
| ·空间热环境 | 第11页 |
| ·高能带电粒子辐照环境 | 第11-14页 |
| ·空间等离子体环境 | 第14页 |
| ·光学材料在空间环境中的要求 | 第14-15页 |
| ·空间光学系统及应用 | 第15页 |
| ·空间光学透镜及其应用 | 第15-19页 |
| ·透镜材料 | 第16-18页 |
| ·光学镀膜增透原理 | 第18-19页 |
| ·空间带电粒子对光学材料的辐照损伤效应 | 第19-23页 |
| ·粒子辐照对光学材料的损伤机制 | 第20-21页 |
| ·石英玻璃辐照损伤效应 | 第21-22页 |
| ·膜层材料辐照损伤效应 | 第22-23页 |
| ·空间环境效应地面模拟研究进展 | 第23-24页 |
| ·空间环境模拟技术的发展 | 第24-25页 |
| ·计算程序模拟技术的发展 | 第25页 |
| ·SRIM程序 | 第25页 |
| ·CASINO程序 | 第25页 |
| ·本课题主要研究的内容 | 第25-27页 |
| 第2章 试验材料、设备及试验方法 | 第27-34页 |
| ·光学镀膜透镜及其制备方法 | 第27-29页 |
| ·镀膜透镜的设计 | 第27-28页 |
| ·镀膜透镜的加工工艺 | 第28页 |
| ·检测结果 | 第28-29页 |
| ·带电粒子辐照设备 | 第29-31页 |
| ·空间综合辐照模拟设备 | 第29-30页 |
| ·高能质子静电加速器 | 第30-31页 |
| ·镀膜透镜的辐照试验方案及分析测试方法 | 第31-34页 |
| ·镀膜透镜的辐照试验方案 | 第31-32页 |
| ·分析测试方法 | 第32-34页 |
| 第3章 透镜辐照模拟试验方法探讨 | 第34-52页 |
| ·透镜辐照过程的蒙特卡罗模拟 | 第34-41页 |
| ·质子辐照的SRIM 模拟 | 第34-38页 |
| ·电子辐照的CASINO模拟 | 第38-41页 |
| ·带电粒子辐照能量的选择 | 第41-46页 |
| ·质子辐照能量的选择 | 第42-44页 |
| ·电子辐照能量的选择 | 第44-46页 |
| ·带电粒子辐照束流密度的选择 | 第46-47页 |
| ·带电粒子综合辐照问题 | 第47-50页 |
| ·质子和电子综合辐照的协同效应 | 第48-49页 |
| ·顺次辐照的协同效应 | 第49-50页 |
| ·轨道带电粒子模拟试验参数选择的建议 | 第50-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第4章 辐照条件下透镜性能演化规律及机理 | 第52-63页 |
| ·电子辐照 | 第52-54页 |
| ·质子辐照 | 第54-56页 |
| ·质子和电子综合辐照 | 第56页 |
| ·质子和电子顺次辐照 | 第56-62页 |
| ·高能质子与低能电子 | 第56-57页 |
| ·高能质子与低能质子 | 第57-58页 |
| ·高能质子与低能综合 | 第58-59页 |
| ·高能质子与低能带电粒子 | 第59-61页 |
| ·电子辐照的充放电效应 | 第61-62页 |
| ·本章小结 | 第62-63页 |
| 第5章 K208 玻璃基镀膜透镜辐照损伤机理分析 | 第63-78页 |
| ·电子辐照吸收光谱解析 | 第63-68页 |
| ·60keV电子辐照吸收光谱解析 | 第63-64页 |
| ·100keV电子辐照吸收光谱解析 | 第64-66页 |
| ·160keV电子辐照吸收光谱解析 | 第66-68页 |
| ·质子辐照吸收光谱解析 | 第68-73页 |
| ·60keV质子辐照吸收光谱解 | 第68-70页 |
| ·100keV质子辐照吸收光谱解析 | 第70-72页 |
| ·1MeV质子辐照吸收光谱解析 | 第72-73页 |
| ·综合辐照吸收光谱解析 | 第73-75页 |
| ·荧光光谱分析 | 第75-76页 |
| ·透镜辐照着色效应分析 | 第76-77页 |
| ·本章小结 | 第77-78页 |
| 结论 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-84页 |
| 致谢 | 第84页 |
