硅基二维光子晶体光电化学制备技术研究
摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-6页 |
目录 | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第7-13页 |
·引言 | 第7页 |
·光子晶体的产生和特性概述 | 第7-8页 |
·光子晶体的应用 | 第8-11页 |
·本课题主要研究内容 | 第11-13页 |
第二章 光子晶体理论研究 | 第13-24页 |
·光子晶体的基本原理 | 第13-15页 |
·光子晶体的麦克斯韦方程 | 第15-17页 |
·光子晶体的理论研究方法 | 第17-18页 |
·光子晶体的制备 | 第18-24页 |
第三章 硅光电化学加工原理 | 第24-41页 |
·概述 | 第24页 |
·硅片的热氧化 | 第24-26页 |
·光刻工艺原理 | 第26-28页 |
·硅基片的各向异性湿法刻蚀原理 | 第28-30页 |
·硅的电化学腐蚀原理 | 第30-41页 |
第四章 二维光子晶体结构形成的工艺实验 | 第41-48页 |
·工艺流程概述 | 第41页 |
·硅片的热氧化过程 | 第41页 |
·诱导坑制备实验 | 第41-44页 |
·硅的电化学刻蚀实验 | 第44-48页 |
第五章 工艺实验中的影响因素分析 | 第48-59页 |
·热氧化过程中的问题与分析 | 第48-49页 |
·光刻中遇到的困难和 BHF对掩膜的影响 | 第49-50页 |
·诱导坑缺陷对电化学的影响 | 第50-51页 |
·光电化学腐蚀技术的影响因素 | 第51-55页 |
·光电化学过程中存在的几种效应 | 第55-56页 |
·实验结果以及分析 | 第56-59页 |
结论 | 第59-61页 |
致谢 | 第61-62页 |
参考文献 | 第62-64页 |