| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-6页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-12页 |
| ·引言 | 第8-9页 |
| ·课题的研究背景和意义 | 第9-11页 |
| ·论文工作概述 | 第11-12页 |
| 第二章 机器视觉与虚拟仪器技术 | 第12-20页 |
| ·基于图像处理的机器视觉 | 第12-16页 |
| ·机器视觉系统的特点与结构 | 第13-15页 |
| ·机器视觉的应用 | 第15-16页 |
| ·基于 LabVIEW的虚拟仪器技术 | 第16-20页 |
| ·虚拟仪器开发平台LabVIEW | 第16-18页 |
| ·IMAQ Vision与 Vision Builder AI简介 | 第18-20页 |
| 第三章 磁环图像预处理及缺陷分析 | 第20-33页 |
| ·几个数字图像处理术语 | 第20-22页 |
| ·磁环图像的预处理 | 第22-31页 |
| ·被检工件分析 | 第22-26页 |
| ·磁环图像预处理 | 第26-31页 |
| ·缺陷特征的检测原理与方法 | 第31-33页 |
| 第四章 磁环检测系统的硬件需求与设计 | 第33-40页 |
| ·磁环检测系统硬件的设计要求 | 第33-34页 |
| ·磁环检测系统设备的需求及选用 | 第34-35页 |
| ·光源和照明方式 | 第34页 |
| ·镜头与 CCD摄像机 | 第34-35页 |
| ·图像采集卡与 PC机 | 第35页 |
| ·磁环检测硬件系统基本结构和功能 | 第35-39页 |
| ·磁环检测系统的工作原理 | 第39-40页 |
| 第五章 检测系统软件的开发及实现 | 第40-69页 |
| ·系统软件的设计要求与子系统 | 第40-41页 |
| ·检测环境设定子系统 | 第41-44页 |
| ·摄像机对中心模块 | 第41-42页 |
| ·系统调试模块 | 第42-44页 |
| ·磁环缺陷自动检测程序子系统 | 第44-50页 |
| ·磁环缺陷自动检测软件的开发 | 第44-45页 |
| ·磁环缺陷自动检测程序的参数设置 | 第45-48页 |
| ·磁环缺陷的自动检测 | 第48-50页 |
| ·磁环缺陷检测系统的性能评价 | 第50-53页 |
| ·窄裂纹缺陷特征检测研究 | 第53-69页 |
| ·常用增强方法增强及检测结果 | 第54-57页 |
| ·小波变换增强及检测结果 | 第57-69页 |
| 第六章 检测结果存储及数据库系统的实现 | 第69-75页 |
| ·数据库结构设计 | 第69-70页 |
| ·LabVIEW与数据库的连接 | 第70-72页 |
| ·LabVIEW访问数据库的方法 | 第70页 |
| ·LabVIEW Database Connectivity Toolset简介 | 第70-71页 |
| ·LabVIEW Database Connectivity Toolset的配置 | 第71页 |
| ·LabVIEW中注册数据库 | 第71-72页 |
| ·检测结果数据的实时存储 | 第72-73页 |
| ·检测结果查询的实现 | 第73-75页 |
| 第七章 总结与展望 | 第75-77页 |
| ·工作总结 | 第75-76页 |
| ·今后工作展望 | 第76-77页 |
| 附录 | 第77-78页 |
| 参考文献 | 第78-80页 |
| 致谢 | 第80-81页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第81页 |
