基于CCD扫描的缺陷检测数字化技术与边缘提取技术
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-15页 |
| ·课题背景及研究意义 | 第10-11页 |
| ·塑料薄膜缺陷检测技术发展综述 | 第11-14页 |
| ·本文的研究内容 | 第14-15页 |
| 第2章 光电检测及其相关技术 | 第15-23页 |
| ·光电检测技术 | 第15-19页 |
| ·电荷耦合器件工作原理 | 第16-19页 |
| ·线阵电荷耦合器件TCD132D 及驱动电路 | 第19-21页 |
| ·线阵电荷耦合器件TCD132D | 第19-20页 |
| ·驱动电路 | 第20-21页 |
| ·本章小结 | 第21-23页 |
| 第3章 塑料薄膜缺陷检测算法 | 第23-38页 |
| ·引言 | 第23页 |
| ·一维多分辨率分析 | 第23-26页 |
| ·多分辨率边缘检测方法 | 第26-27页 |
| ·多分辨率边缘检测算法 | 第26-27页 |
| ·边缘像素的检出 | 第27页 |
| ·缺陷检测算法 | 第27-37页 |
| ·阈值电平选取 | 第27-31页 |
| ·缺陷横向尺寸的确定 | 第31-34页 |
| ·缺陷纵向尺寸的确定 | 第34-35页 |
| ·缺陷横向位置的确定 | 第35页 |
| ·缺陷纵向位置的确定 | 第35-36页 |
| ·实验结果与分析 | 第36-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 第4章 缺陷图像亚像素边缘检测 | 第38-50页 |
| ·引言 | 第38页 |
| ·一维CCD 信号边缘检测原理 | 第38-39页 |
| ·一维CCD 图像边缘检测方法 | 第39-46页 |
| ·阈值电平比较法 | 第39-40页 |
| ·直线拟合法 | 第40-42页 |
| ·对称点法 | 第42-43页 |
| ·曲线拟合法 | 第43-46页 |
| ·实验结果及分析 | 第46-49页 |
| ·边缘检测方法比较实验 | 第46页 |
| ·缺陷检测重复性实验及分析 | 第46-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第5章 基于DSO 的缺陷检测系统 | 第50-60页 |
| ·引言 | 第50页 |
| ·系统检测原理 | 第50-52页 |
| ·虚拟仪器的软件设计 | 第52-56页 |
| ·基于DSO-2902 的缺陷数据采集方法 | 第53-55页 |
| ·动态链接库(DLL)的应用 | 第55-56页 |
| ·运行测试及分析 | 第56-59页 |
| ·软面板设计 | 第56-58页 |
| ·实验及结果分析 | 第58-59页 |
| ·本章小结 | 第59-60页 |
| 结论 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-64页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65页 |
