微机保护装置硬件自动测试的研究
绪论 | 第1-9页 |
自动测试研究的意义 | 第7页 |
自动测试研究的内容及方法 | 第7-9页 |
第一章 数字系统自动测试 | 第9-15页 |
·概述 | 第9页 |
·数字电路的故障 | 第9-12页 |
·数字系统自动测试 | 第12-14页 |
·本课题测试系统实现的功能 | 第14-15页 |
第二章 本课题研究对象的分析 | 第15-23页 |
·简介 | 第15页 |
2. 2待测CPU插件的主要元器件 | 第15-19页 |
·待测CPU插件的功能模块 | 第19-23页 |
第三章 CPU插件测试分析 | 第23-37页 |
·概述 | 第23页 |
·故障分析 | 第23-26页 |
·建立故障模型 | 第24-25页 |
·建立故障集 | 第25-26页 |
·测试分析 | 第26-30页 |
·测试码的生成 | 第26-30页 |
·建立故障字典 | 第30页 |
·可测性分析 | 第30-37页 |
·CAMELOT算法 | 第31-35页 |
·被测CPU插件可测性分析 | 第35-37页 |
第四章 测试方案 | 第37-47页 |
·几种测试方案的比较 | 第37-40页 |
·本课题所用测试方案祥述 | 第40-47页 |
·总体结构 | 第40-41页 |
·测试原理 | 第41-47页 |
第五章 测试装置硬件说明 | 第47-49页 |
·电源插件 | 第47页 |
·测试板 | 第47-49页 |
第六章 测试软件结构 | 第49-68页 |
·通信 | 第49-52页 |
·后台机测试软件 | 第52-57页 |
·测试板测试软件 | 第57-67页 |
·CPU插件测试软件 | 第67-68页 |
第七章 总结 | 第68-69页 |
致谢 | 第69-70页 |
参考文献 | 第70页 |