| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-19页 |
| ·研究背景 | 第11-12页 |
| ·研究意义及其生产应用 | 第12-14页 |
| ·国内外研究现状 | 第14-17页 |
| ·本文的研究内容 | 第17页 |
| ·本文章节内容与安排 | 第17-19页 |
| 第2章 图像处理基本算法 | 第19-34页 |
| ·图像增强 | 第19-26页 |
| ·线性平滑滤波器 | 第20-23页 |
| ·非线性平滑滤波器 | 第23-25页 |
| ·直方图均衡化 | 第25-26页 |
| ·边缘(轮廓)跟踪 | 第26-29页 |
| ·图像的旋转 | 第29-31页 |
| ·图像的形态学 | 第31-34页 |
| ·膨胀运算 | 第31-32页 |
| ·腐蚀运算 | 第32页 |
| ·开运算和闭运算 | 第32-34页 |
| 第3章 表面贴装元件检测系统设计 | 第34-45页 |
| ·系统总体框架 | 第34-35页 |
| ·系统搭建 | 第35-45页 |
| ·照明系统 | 第35-40页 |
| ·运动控制系统 | 第40-41页 |
| ·图像采集系统 | 第41-43页 |
| ·图像处理系统 | 第43-45页 |
| 第4章 贴片电阻与电容的检测 | 第45-70页 |
| ·彩色图像处理 | 第45-49页 |
| ·彩色空间模型 | 第45-47页 |
| ·彩色空间的应用 | 第47-49页 |
| ·连通域检测 | 第49-52页 |
| ·扇面连通域搜索算法 | 第49-50页 |
| ·广度优先连通域搜索算法 | 第50-52页 |
| ·元件的定位与分割 | 第52-55页 |
| ·Mark点的定位 | 第52-54页 |
| ·元件的快速定位 | 第54页 |
| ·元件的快速分割 | 第54-55页 |
| ·元件的典型特征分析 | 第55-57页 |
| ·贴片电阻特征 | 第55-56页 |
| ·贴片电容特征 | 第56-57页 |
| ·贴片电阻元件的检测 | 第57-65页 |
| ·电阻字符的提取 | 第57-60页 |
| ·电阻的确认和识别 | 第60-65页 |
| ·贴片电容元件的检测 | 第65-70页 |
| ·电容颜色的提取 | 第66-67页 |
| ·电容的识别 | 第67-70页 |
| 第5章 贴片芯片的检测 | 第70-95页 |
| ·常见芯片封装类型 | 第70-71页 |
| ·芯片偏转角度检测 | 第71-76页 |
| ·SOP芯片的检测 | 第71-74页 |
| ·QFP芯片的检测 | 第74-76页 |
| ·基于圆投影矢量和算子的芯片标志检测 | 第76-86页 |
| ·圆投影变换 | 第77-79页 |
| ·矢量和变换 | 第79-80页 |
| ·圆投影矢量和变换 | 第80-82页 |
| ·圆投影矢量和效果分析 | 第82-86页 |
| ·基于Zernike(泽尔尼克)算子的芯片标志检测 | 第86-95页 |
| ·泽尔尼克算子原理 | 第86-88页 |
| ·泽尔尼克算法分析 | 第88-92页 |
| ·泽尔尼克效果分析 | 第92-95页 |
| 总结与展望 | 第95-98页 |
| 致谢 | 第98-99页 |
| 参考文献 | 第99-104页 |
| 附录 | 第104-120页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及科研成果 | 第120页 |