相变存储器芯片电路设计与实现
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第一章 相变存储器的研究动态 | 第10-25页 |
| ·引言 | 第10页 |
| ·半导体存储器概述 | 第10-12页 |
| ·相变存储器的研究 | 第12-15页 |
| ·相交存储器发展历史 | 第12-13页 |
| ·相变单元特性及操作原理 | 第13-15页 |
| ·相变存储器芯片研究 | 第15-18页 |
| ·相变存储器芯片研究意义 | 第16页 |
| ·国内外相变存储器芯片发展状况 | 第16-18页 |
| ·相变存储器芯片电路设计方法简述 | 第18-23页 |
| ·本论文的研究背景及拟研究内容 | 第23-25页 |
| 第二章 相变存储器芯片的整体电路 | 第25-39页 |
| ·相变存储器芯片整体框架 | 第25-26页 |
| ·存储阵列 | 第26-27页 |
| ·相变存储器芯片各电路模块 | 第27-38页 |
| ·译码及控制电路 | 第27-31页 |
| ·读出放大电路 | 第31-34页 |
| ·输入输出IO电路 | 第34-37页 |
| ·电压基准、电流偏置电路 | 第37页 |
| ·驱动电流镜电路和限幅电路 | 第37-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第三章 相变存储器芯片偏置及驱动电路设计与仿真 | 第39-65页 |
| ·仿真工具HSPICE | 第39-42页 |
| ·基准电路的设计 | 第42-46页 |
| ·带隙电压的基本原理 | 第42-46页 |
| ·相变存储器芯片中带隙基准电压电路的设计 | 第46-52页 |
| ·电路设计实现 | 第46-48页 |
| ·模拟仿真 | 第48-52页 |
| ·高精度电流源电路 | 第52-55页 |
| ·电路设计实现 | 第52-53页 |
| ·模拟仿真 | 第53-55页 |
| ·驱动电路 | 第55-62页 |
| ·电流镜电路 | 第55-57页 |
| ·相变存储器芯片中电流镜驱动电路的设计 | 第57-62页 |
| ·限幅电路 | 第62-64页 |
| ·限幅电路的原理 | 第62-63页 |
| ·相变存储器芯片中限幅电路的设计及仿真 | 第63-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 第四章 相变存储器芯片的版图实现及后仿真 | 第65-82页 |
| ·版图设计的基本原则 | 第65-68页 |
| ·设计规则 | 第65-67页 |
| ·模拟电路的版图技术 | 第67-68页 |
| ·相变存储器偏置电路版图 | 第68-76页 |
| ·带隙基准电压版图实现 | 第68-73页 |
| ·电流源电路版图实现及后仿真 | 第73-76页 |
| ·电流镜驱动电路 | 第76页 |
| ·存储阵列 | 第76-77页 |
| ·输入输出IO | 第77页 |
| ·整体版图 | 第77-79页 |
| ·后续版图 | 第79-81页 |
| ·本章小结 | 第81-82页 |
| 第五章 相变存储器芯片的测试 | 第82-98页 |
| ·相变存储器芯片测试设备 | 第82页 |
| ·CMOS电路测试 | 第82-91页 |
| ·CMOS器件的参数测试 | 第83-87页 |
| ·写驱动电路功能测试 | 第87-90页 |
| ·寄存器和译码电路功能测试 | 第90-91页 |
| ·GST工艺后的测试 | 第91-96页 |
| ·I-V和V-I测试 | 第92-93页 |
| ·Reset测试 | 第93-95页 |
| ·Set测试 | 第95-96页 |
| ·本章小结 | 第96-98页 |
| 第六章 结论 | 第98-100页 |
| ·总结 | 第98-99页 |
| ·展望 | 第99-100页 |
| 参考文献 | 第100-104页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文目录 | 第104-105页 |
| 致谢 | 第105-106页 |
| 个人简历 | 第106-107页 |
