| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第12-24页 |
| 1.1 研究背景 | 第12-15页 |
| 1.1.1 中子照相分类及特点 | 第13-14页 |
| 1.1.2 中子照相应用价值 | 第14-15页 |
| 1.2 中子照相研究现状 | 第15-20页 |
| 1.2.1 概述 | 第15-17页 |
| 1.2.2 国外研究进展 | 第17-18页 |
| 1.2.3 国内研究进展 | 第18-19页 |
| 1.2.4 快中子照相面临的问题 | 第19-20页 |
| 1.3 研究目标与意义 | 第20-21页 |
| 1.3.1 研究目标 | 第20-21页 |
| 1.3.2 研究意义 | 第21页 |
| 1.4 论文主要内容与结构 | 第21-24页 |
| 第2章 快中子照相理论分析方法 | 第24-36页 |
| 2.1 快中子照相原理及系统组成 | 第24-26页 |
| 2.2 快中子照相系统性能参数计算方法 | 第26-33页 |
| 2.2.1 反差灵敏度 | 第26-28页 |
| 2.2.2 空间分辨率 | 第28-32页 |
| 2.2.3 图像对比度 | 第32页 |
| 2.2.4 照相时间 | 第32-33页 |
| 2.3 快中子照相系统设计优化的蒙卡模拟方法 | 第33-35页 |
| 2.3.1 计算程序SuperMC | 第33-34页 |
| 2.3.2 计算程序GEANT4 | 第34-35页 |
| 2.4 本章小结 | 第35-36页 |
| 第3章 快中子照相系统关键影响因素分析 | 第36-68页 |
| 3.1 快中子照相系统设计分析 | 第36-39页 |
| 3.1.1 准直屏蔽体设计需求与分析 | 第36-37页 |
| 3.1.2 成像系统设计分析 | 第37-39页 |
| 3.2 准直屏蔽体构造对快中子照相系统性能影响分析 | 第39-50页 |
| 3.2.1 结构材料对准直束特性参数的影响 | 第39-46页 |
| 3.2.2 准直束特性参数计算 | 第46-50页 |
| 3.3 成像系统优化对快中子照相系统性能影响分析 | 第50-61页 |
| 3.3.1 中子转换屏参数对输出信号的影响 | 第50-55页 |
| 3.3.2 像探测器选型分析 | 第55-61页 |
| 3.4 快中子照相系统整体性能计算分析 | 第61-65页 |
| 3.4.1 快中子照相系统布局优化 | 第61-64页 |
| 3.4.2 快中子照相系统性能计算 | 第64-65页 |
| 3.5 本章小结 | 第65-68页 |
| 第4章 基于HINEG的快中子照相系统性能参数验证 | 第68-90页 |
| 4.1 实验装置及布局 | 第68-73页 |
| 4.1.1 强流氘氚中子源科学装置 | 第68-69页 |
| 4.1.2 成像系统 | 第69-70页 |
| 4.1.3 实验布置 | 第70-72页 |
| 4.1.4 实验样品 | 第72-73页 |
| 4.2 实验数据获取与处理 | 第73-81页 |
| 4.2.1 实验数据获取 | 第73-74页 |
| 4.2.2 实验数据分析方法 | 第74-77页 |
| 4.2.3 图像处理 | 第77-81页 |
| 4.3 实验结果及讨论 | 第81-87页 |
| 4.3.1 实验与理论结果的对比验证分析 | 第81-85页 |
| 4.3.2 结果讨论 | 第85-87页 |
| 4.4 快中子照相应用性实验 | 第87-88页 |
| 4.5 本章小结 | 第88-90页 |
| 第5章 总结与展望 | 第90-94页 |
| 5.1 总结 | 第90-92页 |
| 5.1.1 主要内容 | 第90-91页 |
| 5.1.2 本文特色与创新点 | 第91-92页 |
| 5.2 展望 | 第92-94页 |
| 参考文献 | 第94-102页 |
| 致谢 | 第102-104页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第104-105页 |
| 在读期间参与项目与获得的奖励 | 第105页 |