控制系统性能评估中干扰通道模型选择的研究
致谢 | 第1-6页 |
摘要 | 第6-8页 |
ABSTRACT | 第8-10页 |
目录 | 第10-13页 |
术语表 | 第13-15页 |
第一章 绪论 | 第15-23页 |
·引言 | 第15页 |
·控制系统性能指标 | 第15-17页 |
·确定性能指标 | 第15-16页 |
·随机性能指标 | 第16-17页 |
·鲁棒性能指标 | 第17页 |
·性能评估综述 | 第17-20页 |
·历史回顾与最新进展 | 第18-19页 |
·软件与工程应用 | 第19页 |
·国内研究现状 | 第19-20页 |
·课题研究的意义 | 第20页 |
·工作内容 | 第20-23页 |
第二章 性能评估理论基础 | 第23-33页 |
·引言 | 第23页 |
·最小方差控制律 | 第23-26页 |
·性能评估方法 | 第26-29页 |
·ARMA算法 | 第26-27页 |
·FCOR算法 | 第27-28页 |
·自相关分析 | 第28-29页 |
·应用步骤 | 第29页 |
·仿真实验 | 第29-31页 |
·注意事项 | 第31-32页 |
·小结 | 第32-33页 |
第三章 单变量过程性能评估中干扰通道模型的选择 | 第33-45页 |
·引言 | 第33页 |
·样本长度的选取 | 第33-34页 |
·典型工业过程的最小方差控制器 | 第34-36页 |
·典型工业过程仿真实验 | 第36-41页 |
·Eriksson示例及扩展 | 第36页 |
·一阶加纯滞后过程 | 第36-38页 |
·二阶加纯滞后过程 | 第38-39页 |
·积分加纯滞后过程 | 第39-41页 |
·结果分析与解释 | 第41页 |
·进一步的分析与解释 | 第41-43页 |
·小结 | 第43-45页 |
第四章 多变量过程性能评估中干扰通道模型的选择 | 第45-55页 |
·引言 | 第45页 |
·理论基础 | 第45-47页 |
·四水槽关联实验装置 | 第47-48页 |
·三种类型的干扰信号 | 第48-49页 |
·干扰通道模型对PID控制器性能评估结果的影响 | 第49-51页 |
·DMC控制器性能评估 | 第51-52页 |
·最小方差基准的不充分性 | 第52-53页 |
·小结 | 第53-55页 |
第五章 总结与展望 | 第55-57页 |
·总结 | 第55页 |
·展望 | 第55-57页 |
参考文献 | 第57-63页 |
附录1 正态分布与白噪声 | 第63-64页 |
附录1.1 正态分布 | 第63页 |
附录1.2 白噪声 | 第63-64页 |
附录2 Box-Jenkins时间序列分析 | 第64-65页 |
附录3 酉关联矩阵计算 | 第65-67页 |
作者简历 | 第67页 |