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低热膨胀系数聚酰亚胺薄膜的制备与性能

摘要第5-7页
Abstract第7-8页
1 绪论第13-23页
    1.1 引言第13页
    1.2 聚酰亚胺的研究进展第13-16页
        1.2.1 聚酰亚胺的发展历程第13-14页
        1.2.2 聚酰亚胺的结构与合成第14-15页
        1.2.3 聚酰亚胺的性能第15页
        1.2.4 聚酰亚胺的改性第15-16页
    1.3 低热膨胀系数聚酰亚胺薄膜简介第16-18页
        1.3.1 聚酰亚胺薄膜的热膨胀系数第16-17页
        1.3.2 低热膨胀系数聚酰亚胺薄膜的发展现状第17页
        1.3.3 低热膨胀系数聚酰亚胺的应用领域第17-18页
    1.4 制备低热膨胀系数聚酰亚胺薄膜的方法第18-21页
        1.4.1 PI薄膜CTE值的影响因素第18页
        1.4.2 均聚或多元共聚低CTE聚酰亚胺第18-19页
        1.4.3 低CTE聚酰亚胺无机复合膜第19-20页
        1.4.4 牵伸及热处理对聚酰亚胺薄膜CTE的影响第20-21页
    1.5 本课题的主要目标及研究内容第21-23页
2 聚酰亚胺/硅酸盐复合薄膜的制备与性能第23-35页
    2.1 引言第23-24页
    2.2 实验部分第24-27页
        2.2.1 实验原料及仪器第24-25页
        2.2.2 实验步骤第25-26页
        2.2.3 测试与表征第26-27页
    2.3 结果与讨论第27-33页
        2.3.1 聚酰亚胺复合膜的制备路线第27-28页
        2.3.2 PAA的表观粘度与PI复合膜的红外光谱分析第28-29页
        2.3.3 PI复合膜的力学性能第29页
        2.3.4 PI复合膜的CTE第29-31页
        2.3.5 PI复合膜的热稳定性第31-32页
        2.3.6 PI复合膜的介电性能第32-33页
    2.4 本章小结第33-35页
3 聚酰亚胺/二氧化硅复合膜的制备与性能第35-50页
    3.1 引言第35页
    3.2 实验部分第35-38页
        3.2.1 实验原料及仪器第35-36页
        3.2.2 实验步骤第36-37页
        3.2.3 测试与表征第37-38页
    3.3 结果与讨论第38-48页
        3.3.1 PI/SiO_2复合膜的制备路线第38-40页
        3.3.2 聚酰胺酸的表观粘度及复合膜的红外分析第40-41页
        3.3.3 SiO_2对复合膜力学性能的影响第41-42页
        3.3.4 SiO_2对复合膜CTE的影响第42-43页
        3.3.5 SiO_2对复合膜热稳定性能的影响第43-45页
        3.3.6 SiO_2对复合膜介电性能的影响第45-46页
        3.3.7 SiO_2对复合膜绝缘电阻率的影响第46页
        3.3.8 复合膜的表面形貌分析第46-48页
    3.4 本章小结第48-50页
4 高温热处理对PI/SiO_2复合膜性能的影响第50-58页
    4.1 引言第50页
    4.2 实验部分第50-52页
        4.2.1 实验原料及仪器第50-51页
        4.2.2 实验步骤第51页
        4.2.3 测试与表征第51-52页
    4.3 结果与讨论第52-57页
        4.3.1 高温热处理复合膜的红外光谱分析第52-53页
        4.3.2 高温热处理对PI/SiO_2复合膜力学性能的影响第53页
        4.3.3 高温热处理对PI/SiO_2复合膜CTE及热稳定性的影响第53-55页
        4.3.4 高温热处理复合膜的X射线衍射分析第55-56页
        4.3.5 高温热处理对PI/SiO_2复合膜介电性能的影响第56页
        4.3.6 高温热处理复合膜的绝缘电阻率及吸水率分析第56-57页
    4.4 本章小结第57-58页
5 多元二胺共聚型低CTE聚酰亚胺薄膜的制备与性能第58-71页
    5.1 引言第58页
    5.2 实验部分第58-61页
        5.2.1 实验原料及仪器第58-59页
        5.2.2 实验步骤第59-61页
        5.2.3 测试与表征第61页
    5.3 结果与讨论第61-69页
        5.3.1 PMDA-ODA-PDA及PMDA-TPEQ-PDA型PI的制备路线第61-63页
        5.3.2 PMDA-ODA-PDA及PMDA-TPEQ-PDA型PI的红外分析第63-64页
        5.3.3 PMDA-ODA-PDA及PMDA-TPEQ-PDA型PAA的表观粘度分析第64页
        5.3.4 PI薄膜的力学性能分析第64-65页
        5.3.5 PI薄膜的TMA及CTE第65-67页
        5.3.6 PI薄膜的热稳定性第67-68页
        5.3.7 PMDA-ODA-PDA及PMDA-TPEQ-PDA型PI的XRD分析第68页
        5.3.8 PMDA-ODA-PDA及PMDA-TPEQ-PDA型PI的介电性能第68-69页
        5.3.9 PMDA-ODA-PDA及PMDA-TPEQ-PDA型PI薄膜的吸水率第69页
    5.4 本章小结第69-71页
6 多元二酐共聚型低CTE聚酰亚胺薄膜的制备与性能第71-83页
    6.1 引言第71页
    6.2 实验部分第71-73页
        6.2.1 实验原料及仪器第71页
        6.2.2 实验步骤第71-72页
        6.2.3 测试与表征第72-73页
    6.3 结果与讨论第73-81页
        6.3.1 PMDA-ODPA-PDA及PMDA-BPDA-PDA型PI的制备路线第73-75页
        6.3.2 共聚型PI的红外光谱分析第75页
        6.3.3 PAA的表观粘度分析第75-76页
        6.3.4 共聚型PI的力学性能分析第76-77页
        6.3.5 共聚型PI的尺寸稳定性第77-78页
        6.3.6 共聚型PI的热稳定性能第78-79页
        6.3.7 共聚型PI的偏光显微镜分析第79-80页
        6.3.8 共聚型PI的XRD分析第80页
        6.3.9 共聚型PI的介电性能及吸水率第80-81页
    6.4 本章小结第81-83页
7 结论第83-85页
    7.1 本文主要结论第83-84页
    7.2 进一步研究设想第84-85页
致谢第85-86页
参考文献第86-92页
附录第92页

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