基于CoM不等式的卫星电源系统抗辐射性能评估方法
| 摘要 | 第10-12页 |
| ABSTRACT | 第12页 |
| 第一章 绪论 | 第13-21页 |
| 1.1 课题背景及研究意义 | 第13-14页 |
| 1.2 抗辐射性能评估国内外研究现状 | 第14-17页 |
| 1.2.1 基于数据的方法 | 第14-15页 |
| 1.2.2 基于模型的方法 | 第15-16页 |
| 1.2.3 数据与模型综合集成的方法 | 第16-17页 |
| 1.3 研究思路 | 第17-19页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第19-21页 |
| 第二章 CoM不等式的基本原理 | 第21-46页 |
| 2.1 CoM原理与McDiarmid不等式 | 第21-23页 |
| 2.1.1 CoM原理 | 第21-22页 |
| 2.1.2 McDiarmid不等式 | 第22-23页 |
| 2.2 McDiarmid不等式拓展 | 第23-27页 |
| 2.2.1 已知性能均值和性能下界 | 第24-25页 |
| 2.2.2 已知数值模型F和F-GZ | 第25-26页 |
| 2.2.3 鞅不等式 | 第26-27页 |
| 2.3 不同输入条件适用的CoM不等式 | 第27-29页 |
| 2.3.1 变量间具有相关性 | 第27-28页 |
| 2.3.2 变量取值无界或函数无界 | 第28-29页 |
| 2.3.3 由抽样定义的经验过程 | 第29页 |
| 2.4 基于CoM不等式的系统认证方法 | 第29-39页 |
| 2.4.1 问题描述 | 第29-30页 |
| 2.4.2 系统认证分析过程 | 第30-35页 |
| 2.4.3 系统认证基本算法 | 第35-37页 |
| 2.4.4 模型精度与试验次数关系的研究 | 第37-39页 |
| 2.5 CoM不等式的应用算例 | 第39-46页 |
| 2.5.1 Sobol函数 | 第39-41页 |
| 2.5.2 一个简单的线性系统 | 第41-46页 |
| 第三章 电源系统抗辐射性能建模 | 第46-66页 |
| 3.1 基于退化的单元抗辐射性能建模 | 第46-55页 |
| 3.1.1 元器件辐射损失机理分析 | 第46-48页 |
| 3.1.2 太阳电池阵性能退化模型 | 第48-52页 |
| 3.1.3 N-MOSFET器件性能退化模型 | 第52-55页 |
| 3.2 系统抗辐射性能的多模型集成建模 | 第55-65页 |
| 3.2.1 多模型集成策略 | 第55-57页 |
| 3.2.2 辐射环境模型 | 第57-58页 |
| 3.2.3 辐射屏蔽模型 | 第58-59页 |
| 3.2.4 太阳电池阵模型 | 第59-60页 |
| 3.2.5 电源系统仿真模型 | 第60-65页 |
| 3.3 本章小结 | 第65-66页 |
| 第四章 电源系统抗辐射性能评估 | 第66-79页 |
| 4.1 不确定性描述 | 第66-67页 |
| 4.1.1 需求不确定性 | 第66页 |
| 4.1.2 模型参数不确定性 | 第66-67页 |
| 4.2 基于CoM不等式的抗辐射评估 | 第67-78页 |
| 4.2.1 基于精确模型的评估 | 第68-72页 |
| 4.2.2 以仿真数据作为试验数据 | 第72-75页 |
| 4.2.3 以实测数据作为试验数据 | 第75-78页 |
| 4.3 本章小结 | 第78-79页 |
| 第五章 总结与展望 | 第79-81页 |
| 5.1 论文主要工作与贡献 | 第79-80页 |
| 5.2 下一步研究展望 | 第80-81页 |
| 致谢 | 第81-83页 |
| 参考文献 | 第83-87页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第87页 |
