学位论文数据集 | 第3-4页 |
摘要 | 第4-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第15-39页 |
1.1 铁电聚合物 | 第15-19页 |
1.1.1 铁电聚合物PVDF概述 | 第15-18页 |
1.1.2 P(VDF-TrFE)概述 | 第18-19页 |
1.2 铁电聚合物薄膜晶体取向 | 第19-31页 |
1.2.1 聚合物结晶及片晶取向概述 | 第19-21页 |
1.2.2 P(VDF-TrFE)共聚物片晶取向研究 | 第21-31页 |
1.2.2.1 取向薄膜诱导P(VDF-TrFE)发生附生结晶 | 第21-22页 |
1.2.2.2 剪切力诱导P(VDF-TrFE)取向 | 第22-24页 |
1.2.2.3 热处理方式影响P(VDF-TrFE)取向方式 | 第24-26页 |
1.2.2.4 AFM接触模式改变P(VDF-TrFE)取向方式 | 第26-27页 |
1.2.2.5 基底影响P(VDF-TrFE)取向方式 | 第27-31页 |
1.3 压电响应力显微镜(PFM)技术 | 第31-36页 |
1.3.1 压电响应力显微镜(PFM)背景介绍 | 第31-32页 |
1.3.2 压电响应力显微镜(PFM)基本原理 | 第32-34页 |
1.3.3 局部极化反转PFM测试 | 第34-36页 |
1.3.3.1 畴动力学研究 | 第34-35页 |
1.3.3.2 局部压电滞后回线 | 第35-36页 |
1.4 本课题的主要内容和创新点 | 第36-39页 |
第二章 熔融温度对P(VDF-TrFE)结晶及铁电性能的影响 | 第39-59页 |
2.1 前言 | 第39页 |
2.2 实验部分 | 第39-43页 |
2.2.1 实验材料 | 第39-40页 |
2.2.2 样品制备 | 第40-42页 |
2.2.2.1 超薄膜制备 | 第40-41页 |
2.2.2.2 超薄膜热处理 | 第41页 |
2.2.2.3 透射电镜样品制备 | 第41-42页 |
2.2.3 样品表征 | 第42-43页 |
2.2.3.1 P(VDF-TrFE)薄膜的原子力显微镜(AFM)表征 | 第42页 |
2.2.3.2 P(VDF-TrFE)薄膜的透射电子显微镜(TEM)表征 | 第42页 |
2.2.3.3 P(VDF-TrFE)薄膜的压电响应力显微镜(PFM)表征 | 第42-43页 |
2.3 结果与讨论 | 第43-58页 |
2.3.1 原子力显微镜(AFM)表征 | 第43-49页 |
2.3.1.1 P(VDF-TrFE)薄膜退火前后的原子力显微镜(AFM)表征 | 第43-45页 |
2.3.1.2 P(VDF-TrFE)薄膜熔融重结晶的原子力显微镜(AFM)表征 | 第45-49页 |
2.3.2 透射电子显微镜(TEM)表征 | 第49-53页 |
2.3.3 聚合物薄膜的压电性能测试 | 第53-55页 |
2.3.4 聚合物薄膜的极化反转测试 | 第55-57页 |
2.3.5 聚合物薄膜的局域铁电性能测试 | 第57-58页 |
2.4 本章小结 | 第58-59页 |
第三章 结晶温度对P(VDF-TrFE)结晶及铁电性能的影响 | 第59-69页 |
3.1 前言 | 第59页 |
3.2 实验部分 | 第59-61页 |
3.2.1 实验材料 | 第59页 |
3.2.2 样品制备 | 第59-61页 |
3.2.2.1 超薄膜制备 | 第59-60页 |
3.2.2.2 超薄膜热处理 | 第60-61页 |
3.2.3 样品表征 | 第61页 |
3.2.3.1 原子力显微镜(AFM) | 第61页 |
3.2.3.2 压电响应力显微镜(PFM) | 第61页 |
3.2.3.3 二维掠入射广角XRD (2D-GIWAXS) | 第61页 |
3.3 结果与讨论 | 第61-67页 |
3.3.1 原子力显微镜(AFM)表征 | 第61-62页 |
3.3.2 聚合物薄膜的压电性能测试 | 第62-64页 |
3.3.3 聚合物薄膜的局域铁电性能测试 | 第64-65页 |
3.3.4 二维掠入射广角XRD (GIXRD)表征 | 第65-67页 |
3.4 本章小结 | 第67-69页 |
第四章 真空蒸镀碳膜固定P(VDF-TrFE)分子取向研究 | 第69-77页 |
4.1 前言 | 第69页 |
4.2 实验部分 | 第69-71页 |
4.2.1 实验材料 | 第69页 |
4.2.2 样品制备 | 第69-71页 |
4.2.2.1 薄膜制备 | 第69-70页 |
4.2.2.2 样品热处理 | 第70-71页 |
4.2.3 样品表征 | 第71页 |
4.2.3.1 P(VDF-TrFE)薄膜的透射电子显微镜(TEM)表征 | 第71页 |
4.2.3.2 铁电测试系统测试 | 第71页 |
4.3 结果与讨论 | 第71-75页 |
4.3.1 真空蒸镀碳膜的P(VDF-TrFE)薄膜TEM表征 | 第71-74页 |
4.3.2 真空蒸镀碳膜的P(VDF-TrFE)薄膜铁电性能测试 | 第74-75页 |
4.4 本章小结 | 第75-77页 |
第五章 实验结论 | 第77-79页 |
参考文献 | 第79-85页 |
研究成果及发表的学术论文 | 第85-87页 |
致谢 | 第87-89页 |
作者与导师简介 | 第89-90页 |
附件 | 第90-91页 |