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取向P(VDF-TrFE)铁电薄膜的可控制备及其结构性能研究

学位论文数据集第3-4页
摘要第4-6页
ABSTRACT第6-7页
第一章 绪论第15-39页
    1.1 铁电聚合物第15-19页
        1.1.1 铁电聚合物PVDF概述第15-18页
        1.1.2 P(VDF-TrFE)概述第18-19页
    1.2 铁电聚合物薄膜晶体取向第19-31页
        1.2.1 聚合物结晶及片晶取向概述第19-21页
        1.2.2 P(VDF-TrFE)共聚物片晶取向研究第21-31页
            1.2.2.1 取向薄膜诱导P(VDF-TrFE)发生附生结晶第21-22页
            1.2.2.2 剪切力诱导P(VDF-TrFE)取向第22-24页
            1.2.2.3 热处理方式影响P(VDF-TrFE)取向方式第24-26页
            1.2.2.4 AFM接触模式改变P(VDF-TrFE)取向方式第26-27页
            1.2.2.5 基底影响P(VDF-TrFE)取向方式第27-31页
    1.3 压电响应力显微镜(PFM)技术第31-36页
        1.3.1 压电响应力显微镜(PFM)背景介绍第31-32页
        1.3.2 压电响应力显微镜(PFM)基本原理第32-34页
        1.3.3 局部极化反转PFM测试第34-36页
            1.3.3.1 畴动力学研究第34-35页
            1.3.3.2 局部压电滞后回线第35-36页
    1.4 本课题的主要内容和创新点第36-39页
第二章 熔融温度对P(VDF-TrFE)结晶及铁电性能的影响第39-59页
    2.1 前言第39页
    2.2 实验部分第39-43页
        2.2.1 实验材料第39-40页
        2.2.2 样品制备第40-42页
            2.2.2.1 超薄膜制备第40-41页
            2.2.2.2 超薄膜热处理第41页
            2.2.2.3 透射电镜样品制备第41-42页
        2.2.3 样品表征第42-43页
            2.2.3.1 P(VDF-TrFE)薄膜的原子力显微镜(AFM)表征第42页
            2.2.3.2 P(VDF-TrFE)薄膜的透射电子显微镜(TEM)表征第42页
            2.2.3.3 P(VDF-TrFE)薄膜的压电响应力显微镜(PFM)表征第42-43页
    2.3 结果与讨论第43-58页
        2.3.1 原子力显微镜(AFM)表征第43-49页
            2.3.1.1 P(VDF-TrFE)薄膜退火前后的原子力显微镜(AFM)表征第43-45页
            2.3.1.2 P(VDF-TrFE)薄膜熔融重结晶的原子力显微镜(AFM)表征第45-49页
        2.3.2 透射电子显微镜(TEM)表征第49-53页
        2.3.3 聚合物薄膜的压电性能测试第53-55页
        2.3.4 聚合物薄膜的极化反转测试第55-57页
        2.3.5 聚合物薄膜的局域铁电性能测试第57-58页
    2.4 本章小结第58-59页
第三章 结晶温度对P(VDF-TrFE)结晶及铁电性能的影响第59-69页
    3.1 前言第59页
    3.2 实验部分第59-61页
        3.2.1 实验材料第59页
        3.2.2 样品制备第59-61页
            3.2.2.1 超薄膜制备第59-60页
            3.2.2.2 超薄膜热处理第60-61页
        3.2.3 样品表征第61页
            3.2.3.1 原子力显微镜(AFM)第61页
            3.2.3.2 压电响应力显微镜(PFM)第61页
            3.2.3.3 二维掠入射广角XRD (2D-GIWAXS)第61页
    3.3 结果与讨论第61-67页
        3.3.1 原子力显微镜(AFM)表征第61-62页
        3.3.2 聚合物薄膜的压电性能测试第62-64页
        3.3.3 聚合物薄膜的局域铁电性能测试第64-65页
        3.3.4 二维掠入射广角XRD (GIXRD)表征第65-67页
    3.4 本章小结第67-69页
第四章 真空蒸镀碳膜固定P(VDF-TrFE)分子取向研究第69-77页
    4.1 前言第69页
    4.2 实验部分第69-71页
        4.2.1 实验材料第69页
        4.2.2 样品制备第69-71页
            4.2.2.1 薄膜制备第69-70页
            4.2.2.2 样品热处理第70-71页
        4.2.3 样品表征第71页
            4.2.3.1 P(VDF-TrFE)薄膜的透射电子显微镜(TEM)表征第71页
            4.2.3.2 铁电测试系统测试第71页
    4.3 结果与讨论第71-75页
        4.3.1 真空蒸镀碳膜的P(VDF-TrFE)薄膜TEM表征第71-74页
        4.3.2 真空蒸镀碳膜的P(VDF-TrFE)薄膜铁电性能测试第74-75页
    4.4 本章小结第75-77页
第五章 实验结论第77-79页
参考文献第79-85页
研究成果及发表的学术论文第85-87页
致谢第87-89页
作者与导师简介第89-90页
附件第90-91页

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