| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 引言 | 第9-11页 |
| 1 绪论 | 第11-24页 |
| ·低温等离子体的产生方式 | 第11-16页 |
| ·介质阻挡放电 | 第11-13页 |
| ·射频放电 | 第13-14页 |
| ·微波放电 | 第14-16页 |
| ·低温等离子体的光谱法诊断 | 第16-23页 |
| ·发射光谱法 | 第17页 |
| ·激光诱导荧光光谱法 | 第17-18页 |
| ·吸收光谱法 | 第18-23页 |
| ·本论文的选题及思路 | 第23-24页 |
| 2 实验装置 | 第24-34页 |
| ·介质阻挡放电装置 | 第24-25页 |
| ·微波放电装置 | 第25-26页 |
| ·微波源 | 第25-26页 |
| ·放电系统 | 第26页 |
| ·水冷系统 | 第26页 |
| ·配气和抽气系统 | 第26-27页 |
| ·连续波光腔衰荡光谱装置 | 第27-34页 |
| ·激光源的选择 | 第28页 |
| ·光隔离器的选择 | 第28页 |
| ·声光调制器的选择 | 第28-29页 |
| ·光学谐振腔 | 第29-30页 |
| ·探测器的选择 | 第30页 |
| ·触发电路 | 第30-33页 |
| ·数据采集与处理程序设计 | 第33页 |
| ·其他辅助设备 | 第33-34页 |
| 3 实验原理 | 第34-39页 |
| ·光谱线的宽度与线形 | 第34-35页 |
| ·均匀加宽 | 第34-35页 |
| ·多普勒加宽 | 第35页 |
| ·综合加宽 | 第35页 |
| ·数密度的计算 | 第35-38页 |
| ·吸收谱线的线强度 | 第35-36页 |
| ·配分函数 | 第36-37页 |
| ·数密度 | 第37-38页 |
| ·转动温度的测定 | 第38-39页 |
| 4 HCHO体系微波等离子体中OH自由基的光腔衰荡光谱检测 | 第39-55页 |
| ·前言 | 第39-40页 |
| ·OH自由基的近红外光谱 | 第40-41页 |
| ·衰荡时间与高反镜反射率的测定 | 第41-43页 |
| ·OH的定量测定 | 第43-47页 |
| ·OH数密度及转动温度随微波功率及气体组成的变化 | 第47-53页 |
| ·OH数密度随放电气压的变化 | 第49-50页 |
| ·OH数密度及转动温度随微波功率的变化 | 第50-51页 |
| ·OH转动温度随N_2含量的变化 | 第51-52页 |
| ·OH数密度及转动温度随O_2含量的变化 | 第52-53页 |
| ·HCHO对OH数密度及转动温度的影响 | 第53页 |
| ·本章小结 | 第53-55页 |
| 5 介质阻挡及微波放电中单重态氧的光腔衰荡光谱研究 | 第55-70页 |
| ·前言 | 第55-57页 |
| ·单重态氧的分子结构和特性 | 第57-58页 |
| ·O_2(~1Δ_g)产生的主要放电方式 | 第58-59页 |
| ·放电产生O_2(~1Δ_g)的一些物理-化学过程 | 第59-63页 |
| ·单重态氧的近红外光谱 | 第63-65页 |
| ·O_2(~1Δ_g)的原位测定 | 第65-69页 |
| ·介质阻挡放电中O_2(~1Δ_g)的测定 | 第65-68页 |
| ·微波放电中O_2(~1Δ_g)的测定 | 第68-69页 |
| ·本章小结 | 第69-70页 |
| 结论 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-81页 |
| 附录A 光腔衰荡光谱实验数据处理程序 | 第81-83页 |
| 攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第83-84页 |
| 致谢 | 第84-86页 |
