柔性印刷电路板缺陷检测系统研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-16页 |
| 1.1 柔性印刷电路板简述 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外现状 | 第12-13页 |
| 1.2.1 国外发展现状 | 第12页 |
| 1.2.2 国内发展现状 | 第12-13页 |
| 1.3 柔性印刷电路板表观检测实时性需求 | 第13-14页 |
| 1.4 本课题的研究内容及章节安排 | 第14-16页 |
| 第二章 检测系统的方案介绍 | 第16-25页 |
| 2.1 传统AOI检测系统的工作原理 | 第16-17页 |
| 2.2 一种改进的检测系统方案 | 第17-19页 |
| 2.3 检测系统的视觉模块 | 第19-21页 |
| 2.3.1 光源 | 第19-20页 |
| 2.3.2 工业镜头 | 第20页 |
| 2.3.3 工业相机 | 第20-21页 |
| 2.4 研究平台的处理器选择基础 | 第21-24页 |
| 2.4.1 单核微处理器 | 第22页 |
| 2.4.2 多核微处理器 | 第22-23页 |
| 2.4.3 众核图形处理器 | 第23-24页 |
| 2.5 本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 图像采集与处理算法分析 | 第25-44页 |
| 3.1 多路视觉输入的实时性实验 | 第25-30页 |
| 3.2 图像预处理部分原理分析 | 第30-39页 |
| 3.3 检测算法原理分析 | 第39-43页 |
| 3.3.1 图像相减法 | 第39页 |
| 3.3.2 特征匹配法 | 第39-40页 |
| 3.3.3 唯相位法 | 第40-43页 |
| 3.4 本章小结 | 第43-44页 |
| 第四章 检测系统方案在CPU系统下的实现 | 第44-58页 |
| 4.1 多线程编程技术 | 第44-45页 |
| 4.1.1 线程的通信与同步 | 第44页 |
| 4.1.2 程序并行优化模式思路 | 第44-45页 |
| 4.2 串行处理处理方案 | 第45-47页 |
| 4.3 流水线模式的处理方案 | 第47-51页 |
| 4.3.1 流水线优化的工作原理 | 第47-49页 |
| 4.3.2 数据缓冲区的选择 | 第49页 |
| 4.3.3 保护缓冲区带来的串行化问题 | 第49-50页 |
| 4.3.4 同步处理的流水线方式 | 第50-51页 |
| 4.4 数据分解的处理方案 | 第51-54页 |
| 4.4.1 图像预处理数据分解 | 第52-53页 |
| 4.4.2 检测算法数据分解 | 第53-54页 |
| 4.5 实验数据分析 | 第54-57页 |
| 4.6 本章小结 | 第57-58页 |
| 第五章 CPU+GPU异构模型的实现 | 第58-74页 |
| 5.1 CPU+GPU异构模型环境搭建 | 第58-59页 |
| 5.2 CUDA编程模型 | 第59-64页 |
| 5.2.1 CUDA硬件架构 | 第59-61页 |
| 5.2.2 CUDA软件环境 | 第61-63页 |
| 5.2.3 NVCC编译器 | 第63-64页 |
| 5.3 CUDA存储结构及线程管理结构 | 第64-67页 |
| 5.3.1 CUDA存储结构 | 第64-66页 |
| 5.3.2 线程管理结构 | 第66-67页 |
| 5.4 GPU加速实现及结果分析 | 第67-73页 |
| 5.4.1 图像预处理部分 | 第67-70页 |
| 5.4.2 检测算法部分 | 第70-73页 |
| 5.5 不同优化方式的特点对比 | 第73页 |
| 5.6 本章小结 | 第73-74页 |
| 总结与展望 | 第74-76页 |
| 论文总结 | 第74-75页 |
| 未来展望 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-80页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第80-81页 |
| 致谢 | 第81-82页 |
| 附件 | 第82页 |
