摘要 | 第4-6页 |
abstract | 第6-8页 |
第一章 绪论 | 第13-37页 |
1.1 研究的背景和意义 | 第13-14页 |
1.2 重金属分析方法的发展 | 第14-18页 |
1.2.1 仪器方法 | 第14-16页 |
1.2.2 样品前处理技术 | 第16-18页 |
1.3 固体进样元素分析技术与基体干扰 | 第18-22页 |
1.3.1 样品导入技术 | 第18-21页 |
1.3.2 基质干扰问题 | 第21-22页 |
1.4 自发单层分散理论 | 第22-26页 |
1.4.1 基本原理 | 第23-24页 |
1.4.2 SMD在催化剂领域的应用 | 第24页 |
1.4.3 SMD在分析领域的应用 | 第24-25页 |
1.4.4 自发单层分散与基质干扰的消除 | 第25-26页 |
1.5 本论文主要研究内容 | 第26-28页 |
参考文献 | 第28-37页 |
第二章 自发单层分散固体进样原子荧光法测定镉的方法与机理研究 | 第37-52页 |
2.1 前言 | 第37-38页 |
2.2 实验部分 | 第38-41页 |
2.2.1 试剂、样品与耗材 | 第38页 |
2.2.2 仪器和装置 | 第38-39页 |
2.2.3 样品预处理 | 第39页 |
2.2.4 自发单层分散固体进样-原子荧光法测定Cd的基本流程 | 第39-40页 |
2.2.5 测试相关仪器参数 | 第40-41页 |
2.3 结果与讨论 | 第41-48页 |
2.3.1 样品预处理条件选择 | 第41页 |
2.3.2 载气组分及流速对Cd自发分散的影响 | 第41-42页 |
2.3.3 热力学条件(灰化温度)对Cd自发分散的影响 | 第42-43页 |
2.3.4 动力学条件(灰化时间)对Cd自发分散的影响 | 第43-44页 |
2.3.5 蒸发条件对Cd自发分散的影响 | 第44-45页 |
2.3.6 二次离子质谱测试验证自发单层分散现象的存在 | 第45-47页 |
2.3.7 部分干扰因素的排查 | 第47-48页 |
2.4 本章小结 | 第48-49页 |
参考文献 | 第49-52页 |
第三章 自发单层分散固体进样原子荧光法测定大米中Cd的研究 | 第52-66页 |
3.1 前言 | 第52-53页 |
3.2 实验部分 | 第53-55页 |
3.2.1 试剂、样品与耗材 | 第53页 |
3.2.2 仪器与装置 | 第53-54页 |
3.2.3 样品预处理 | 第54页 |
3.2.4 确证性方法 | 第54-55页 |
3.2.5 AFS仪器工作参 | 第55页 |
3.3 结果与讨论 | 第55-62页 |
3.3.1 样品预处理条件选择 | 第55页 |
3.3.2 载气流速优化 | 第55-56页 |
3.3.3 热力学条件优化 | 第56-57页 |
3.3.4 动力学条件优化 | 第57页 |
3.3.5 蒸发功率优化 | 第57-58页 |
3.3.6 标准曲线绘制策略 | 第58-59页 |
3.3.7 方法学评价 | 第59-61页 |
3.3.8 实际样品测试基体干扰对比 | 第61-62页 |
3.4 小结 | 第62-64页 |
参考文献 | 第64-66页 |
第四章 自发单层分散固体进样原子荧光法测定塑料中Cd的研究 | 第66-78页 |
4.1 前言 | 第66-67页 |
4.2 实验部分 | 第67-68页 |
4.2.1 试剂、样品与耗材 | 第67页 |
4.2.2 仪器和装置 | 第67页 |
4.2.3 样品预处理 | 第67页 |
4.2.4 AFS仪器工作参数 | 第67-68页 |
4.3 结果与讨论 | 第68-75页 |
4.3.1 样品预处理条件选择 | 第68页 |
4.3.2 载气流速优化 | 第68-69页 |
4.3.3 热力学条件优化 | 第69-70页 |
4.3.4 动力学条件优化 | 第70-71页 |
4.3.5 蒸发功率优化 | 第71-72页 |
4.3.6 实际样品测试 | 第72页 |
4.3.7 方法学评价 | 第72-75页 |
4.4 小结 | 第75-76页 |
参考文献 | 第76-78页 |
攻读硕士学位期间发表的学术论文及取得的科研成果 | 第78-80页 |
致谢 | 第80页 |