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基于OpenCV的回转体零件表面缺陷检测研究

摘要第5-6页
Abstract第6页
第1章 绪论第9-14页
    1.1 课题背景及其意义第9页
    1.2 国内外的研究现状第9-12页
        1.2.1 国外研究现状第10-11页
        1.2.2 国内研究现状第11-12页
    1.3 存在的问题以及发展现状第12-13页
    1.4 本文的研究内容以及安排第13-14页
第2章 图像采集系统的建立以及硬件的选取第14-21页
    2.1 工业相机第14-15页
    2.2 光学镜头的选择第15-17页
    2.3 光源以及照明方式的选择第17-19页
        2.3.1 光源的选取第17-18页
        2.3.2 照明方式的选取第18-19页
    2.4 图像采集整体结构第19-20页
    2.5 本章小结第20-21页
第3章 回转体零件的图像预处理第21-31页
    3.1 引言第21页
    3.2 图像增强第21-22页
        3.2.1 直方图的均衡化第21页
        3.2.2 实验结果分析第21-22页
    3.3 图像的平滑滤波第22-26页
        3.3.1 均值滤波第23页
        3.3.2 中值滤波第23-24页
        3.3.3 高斯滤波第24页
        3.3.4 几种平滑滤波算法的比较与选择第24-26页
    3.4 运用形态学进行背景分割第26-29页
        3.4.1 灰度图像的膨胀与腐蚀第26-27页
        3.4.2 灰度图像的开闭运算第27-28页
        3.4.3 顶帽变换(Top-Hat变换)和底帽变换(Bottom-Hat)第28页
        3.4.4 基于顶帽变换的光照不均匀的目标图像的提取第28-29页
    3.5 本章小结第29-31页
第4章 图像分割第31-45页
    4.1 基于边缘的图像分割方法第31-32页
    4.2 区域生长法第32页
    4.3 基于阈值的图像分割第32-40页
        4.3.1 双峰法第33页
        4.3.2 迭代法第33-34页
        4.3.3 最大类间方差法第34-36页
        4.3.4 最大熵法第36-37页
        4.3.5 利用Otsu法进行阈值分割第37-40页
    4.4 图像连通区域标记法第40-44页
        4.4.1 缺陷检测第40-41页
        4.4.2 八邻域区域标记法去噪第41-44页
    4.5 本章小结第44-45页
第5章 特征提取以及缺陷分类第45-51页
    5.1 缺陷的特征提取与特征选择第45-47页
        5.1.1 缺陷的特征提取第45-46页
        5.1.2 图像的特征选择第46-47页
    5.2 基于支持向量机分类器的缺陷分类第47-49页
    5.3 缺陷分类第49-50页
    5.4 本章小结第50-51页
第6章 总结与展望第51-52页
参考文献第52-55页
致谢第55页

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