| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 目录 | 第7-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第9-12页 |
| 1.1.1 频标的发展 | 第9-10页 |
| 1.1.2 铝离子光频标简介 | 第10-12页 |
| 1.2 铝离子光频标时序测控系统介绍 | 第12-15页 |
| 1.3 本论文主要内容和章节安排 | 第15-17页 |
| 第二章 测控系统 | 第17-21页 |
| 2.1 测控系统简介 | 第17页 |
| 2.2 测控系统的组成 | 第17-18页 |
| 2.3 测控系统的分类 | 第18-20页 |
| 2.4 测控系统的地位和作用 | 第20-21页 |
| 第三章 基于 LabVIEW和PCIe-6351 的时序测控系统 | 第21-51页 |
| 3.1 ~(24)Mg~+的制备、囚禁和冷却 | 第21-27页 |
| 3.1.1 ~(24)Mg~+的制备 | 第21-23页 |
| 3.1.2 ~(24)Mg~+的囚禁 | 第23-26页 |
| 3.1.3 ~(24)Mg~+的冷却 | 第26-27页 |
| 3.2 ~(24)Mg~+囚禁和冷却的时序测控系统的要求及分析 | 第27-28页 |
| 3.3 系统硬件平台的设计与实现 | 第28-34页 |
| 3.4 系统软件的设计与实现 | 第34-50页 |
| 3.5 ~(24)Mg~+囚禁和冷却的时序测控系统的实验结果 | 第50-51页 |
| 第四章 基于 LabVIEW 和 FPGA 板卡的时序测控系统 | 第51-102页 |
| 4.1 ~(25)Mg~+天线实验 | 第51-91页 |
| 4.1.1 ~(25)Mg~+天线实验原理 | 第51-52页 |
| 4.1.2 ~(25)Mg~+天线实验的时序测控系统的要求及分析 | 第52-56页 |
| 4.1.3 基于 LabVIEW 和 PCIe-6351 的多路时序控制脉冲发生器 | 第56-73页 |
| 4.1.4 天线实验时序测控系统的硬件平台设计与实现 | 第73-78页 |
| 4.1.5 天线实验时序测控系统的软件设计与实现 | 第78-90页 |
| 4.1.6 天线实验时序测控系统的实验结果 | 第90-91页 |
| 4.2 Al~+钟跃迁实验 | 第91-102页 |
| 第五章 总结与展望 | 第102-103页 |
| 致谢 | 第103-105页 |
| 参考文献 | 第105-109页 |
| 附录Ⅰ 攻读学位期间发表论文目录 | 第109页 |
