| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 1 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 论文选题的意义 | 第9页 |
| 1.2 四探针法的主要应用 | 第9-10页 |
| 1.3 四探针测试仪的研究现状与发展前景 | 第10-11页 |
| 1.4 论文主要研究内容及结构安排 | 第11-13页 |
| 1.4.1 论文的主要研究内容 | 第11页 |
| 1.4.2 论文的结构安排 | 第11-13页 |
| 2 论文总体设计及相关技术 | 第13-29页 |
| 2.1 四探针测试仪原理 | 第13-19页 |
| 2.1.1 各类四探针测试法简述 | 第13-14页 |
| 2.1.2 直线四探针法 | 第14-16页 |
| 2.1.3 方形四探针测试法 | 第16-18页 |
| 2.1.4 改进的范德堡法 | 第18页 |
| 2.1.5 改进的 Rymaszewski 法 | 第18-19页 |
| 2.2 论文最终所采用的测试方法 | 第19页 |
| 2.3 直线四探针法的修正问题 | 第19-21页 |
| 2.3.1 直线四探针法的边缘修正 | 第19-20页 |
| 2.3.2 直线四探针法的厚度修正 | 第20-21页 |
| 2.4 SOPC 技术 | 第21-26页 |
| 2.4.1 SOPC 技术的特点及优势 | 第21-22页 |
| 2.4.2 Nios II 系统 | 第22-24页 |
| 2.4.3 Nios II 总线结构 | 第24-26页 |
| 2.5 Lab VIEW 技术 | 第26-29页 |
| 2.5.1 Lab VIEW 开发环境的的特点与优势 | 第26-27页 |
| 2.5.2 Lab VIEW 的开发与调试步骤 | 第27-29页 |
| 3 系统的硬件架构 | 第29-41页 |
| 3.1 总体硬件框架 | 第29页 |
| 3.2 机械架构及改进 | 第29-34页 |
| 3.2.1 机械架构 | 第29-31页 |
| 3.2.2 机械架构的改进 | 第31-32页 |
| 3.2.3 步进电机及驱动电路 | 第32-34页 |
| 3.3 DE0 开发板 | 第34-36页 |
| 3.4 恒流源电路 | 第36-37页 |
| 3.5 电压放大及 A/D 转换 | 第37-39页 |
| 3.5.1 测量电压放大电路 | 第37-38页 |
| 3.5.2 A/D 转换模块 | 第38-39页 |
| 3.6 串口硬件电路 | 第39-41页 |
| 4 下位机控制系统设计 | 第41-54页 |
| 4.1 下位机控制系统总体设计 | 第41-42页 |
| 4.2 下位机控制系统 Nios II 软核设计 | 第42-44页 |
| 4.2.1 Nios II 软核需要实现的功能 | 第42页 |
| 4.2.2 Nios II 软核处理器的设计 | 第42-44页 |
| 4.3 下位机控制系统顶层原理图设计 | 第44-48页 |
| 4.4 下位机控制系统软件设计 | 第48-54页 |
| 4.4.1 Nios II IDE 中的软件开发 | 第48-50页 |
| 4.4.2 下位机控制系统主程序的设计 | 第50-51页 |
| 4.4.3 A/D 控制模块程序设计 | 第51-52页 |
| 4.4.4 串口通信模块程序设计 | 第52-54页 |
| 5 系统的上位机设计 | 第54-62页 |
| 5.1 上位机的总体设计 | 第54页 |
| 5.2 测试台移动控制模块 | 第54-56页 |
| 5.3 数据处理模块 | 第56-59页 |
| 5.3.1 单点测量 | 第56页 |
| 5.3.2 多点测量 | 第56-57页 |
| 5.3.3 数据显示及存储模块 | 第57-59页 |
| 5.4 上位机与下位机通信 | 第59-62页 |
| 结论 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-66页 |
| 攻读学位期间的研究成果 | 第66页 |