中小尺寸液晶模块通用测试仪的设计与研制
摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-8页 |
第一章 绪论 | 第8-12页 |
·研究背景 | 第8页 |
·液晶模块发展现状及市场分析 | 第8-9页 |
·液晶模块的测试方法及现状 | 第9-10页 |
·研究工作与内容 | 第10-12页 |
第二章 液晶模块测试仪的理论基础 | 第12-16页 |
·液晶模块的工作原理及特点 | 第12-15页 |
·液晶简介 | 第12-13页 |
·常见液晶类型的工作原理与特点 | 第13页 |
·液晶模块的特点 | 第13-14页 |
·液晶屏的类型 | 第14页 |
·背光选择 | 第14-15页 |
·TFT点缺陷和线缺陷分析 | 第15页 |
·液晶模块测试仪设计中的注意事项 | 第15-16页 |
第三章 液晶模块测试仪的整体规划及开发环境 | 第16-24页 |
·系统方案制定 | 第16-17页 |
·方案对比 | 第16页 |
·CPU选型 | 第16-17页 |
·外部接口扩展 | 第17页 |
·系统简介 | 第17-18页 |
·系统组成结构 | 第18页 |
·开发环境 | 第18-22页 |
·操作系统选择 | 第19-20页 |
·Linux系统特性 | 第20页 |
·本地Linux网络开发环境 | 第20-21页 |
·主机操作系统 | 第21-22页 |
·源代码编辑器和远程登陆器 | 第22页 |
·设计原则 | 第22-24页 |
第四章 液晶模块测试仪的硬件设计 | 第24-50页 |
·液晶模块测试仪的硬件组成与结构 | 第24-31页 |
·主控部分 | 第25-29页 |
·驱动保护部分 | 第29-30页 |
·电源部分 | 第30-31页 |
·其他部分 | 第31页 |
·液晶模块测试仪的引导代码 | 第31-36页 |
·引导代码简介 | 第31-32页 |
·引导代码启动程序 | 第32-34页 |
·代码烧写 | 第34-35页 |
·烧写时故障解析 | 第35-36页 |
·系统内核 | 第36-46页 |
·Linux内核针对嵌入式开发的显著特点 | 第36-37页 |
·Linux内核在液晶模块测试仪中的应用 | 第37-45页 |
·系统内核下载 | 第45-46页 |
·内核烧写故障解析 | 第46页 |
·硬件抗干扰设计 | 第46-50页 |
·PCB的可靠性设计 | 第47页 |
·布线设计 | 第47-48页 |
·隔离措施 | 第48页 |
·外部配线干扰 | 第48页 |
·接地 | 第48-50页 |
第五章 液晶模块测试仪的软件设计 | 第50-56页 |
·软件设计的可行性分析 | 第50页 |
·液晶模块测试仪软件结构 | 第50-51页 |
·系统程序 | 第51-53页 |
·测试程序 | 第51-52页 |
·名称初始化 | 第52页 |
·芯片管脚的处理 | 第52页 |
·快速数字输入输出函数 | 第52-53页 |
·慢速数字输入输出函数 | 第53页 |
·操作面板函数 | 第53页 |
·校验程序 | 第53-54页 |
·液晶模块测试仪的校验程序功能 | 第53-54页 |
·校验程序的一般需求 | 第54页 |
·辅助程序 | 第54-55页 |
·数据记录 | 第55页 |
·软件抗干扰设计 | 第55-56页 |
第六章 液晶模块测试仪的整机性能测试 | 第56-64页 |
·硬件调试 | 第56-58页 |
·最小系统测试 | 第56-57页 |
·模数采样调理电路测试 | 第57页 |
·RS-232电路测试 | 第57页 |
·液晶显示电路测试 | 第57页 |
·调试过程中需要注意的问题 | 第57-58页 |
·程序调试 | 第58页 |
·整体性能测试 | 第58-61页 |
·校验测试系统简介 | 第58-59页 |
·校验系统设置 | 第59-61页 |
·系统性能指标与适用范围 | 第61-62页 |
·产品程序下载 | 第62页 |
·最终产品 | 第62-64页 |
第七章 总结与展望 | 第64-67页 |
·总结 | 第64-65页 |
·研究成果 | 第64-65页 |
·创新点 | 第65页 |
·不足和改善 | 第65页 |
·展望 | 第65-67页 |
参考文献 | 第67-69页 |
攻读硕士学位期间的发表的论文 | 第69-70页 |
致谢 | 第70-71页 |