| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 目录 | 第7-11页 |
| Contents | 第11-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-28页 |
| 1.1 二氧化锰的结构特征 | 第15-16页 |
| 1.2 二氧化锰的合成研究进展 | 第16-21页 |
| 1.2.1 液相合成法 | 第16-18页 |
| 1.2.2 前驱体转化法 | 第18-19页 |
| 1.2.3 水热法 | 第19-21页 |
| 1.2.4 其他合成方法 | 第21页 |
| 1.3 二氧化锰的应用进展 | 第21-26页 |
| 1.3.1 电化学应用 | 第21-23页 |
| 1.3.2 液相催化应用 | 第23页 |
| 1.3.3 气相催化应用 | 第23-25页 |
| 1.3.4 吸附领域应用 | 第25-26页 |
| 1.4 本论文的选题意义以及研究内容 | 第26-28页 |
| 第二章 不同晶型的氧化锰的可控合成及催化性能研究 | 第28-46页 |
| 2.1 引言 | 第28-29页 |
| 2.2 实验试剂和仪器 | 第29-30页 |
| 2.2.1 实验试剂 | 第29页 |
| 2.2.2 实验仪器 | 第29-30页 |
| 2.3 实验内容 | 第30-31页 |
| 2.3.1 合成工艺 | 第30页 |
| 2.3.2 二氧化锰催化活性测试 | 第30-31页 |
| 2.4 二氧化锰表征 | 第31-32页 |
| 2.4.1 X射线衍射(XRD)分析 | 第31页 |
| 2.4.2 扫描电镜(SEM)分析 | 第31页 |
| 2.4.3 拉曼光谱(Raman)分析 | 第31页 |
| 2.4.4 X射线光电子能谱(XPS)分析 | 第31页 |
| 2.4.5 程序升温还原(H_2-TPR) | 第31页 |
| 2.4.6 热重分析(Thermogravimetric,TG) | 第31-32页 |
| 2.5 结果与讨论 | 第32-45页 |
| 2.5.1 XRD和Raman表征与分析 | 第32-34页 |
| 2.5.2 扫描电镜(SEM)表征与分析 | 第34-36页 |
| 2.5.3 醋酸钾用量的影响 | 第36-37页 |
| 2.5.4 醋酸用量的影响 | 第37-40页 |
| 2.5.5 二氧化锰转化机制探讨 | 第40-42页 |
| 2.5.6 二氧化锰催化性能研究 | 第42-45页 |
| 2.6 本章小结 | 第45-46页 |
| 第三章 二氧化锰超长纳米线可控合成及其吸附行为研究 | 第46-58页 |
| 3.1 引言 | 第46-47页 |
| 3.2 实验试剂和仪器 | 第47-48页 |
| 3.2.1 实验试剂 | 第47页 |
| 3.2.2 实验仪器 | 第47-48页 |
| 3.3 实验内容 | 第48-49页 |
| 3.3.1 合成工艺 | 第48页 |
| 3.3.2 二氧化锰吸附性能研究 | 第48-49页 |
| 3.4 二氧化锰表征 | 第49-50页 |
| 3.4.1 X射线衍射(XRD)分析 | 第49页 |
| 3.4.2 扫描电镜(SEM)分析 | 第49页 |
| 3.4.3 高分辨透射电镜(HRTEM)分析 | 第49页 |
| 3.4.4 比表面积分析(BET) | 第49页 |
| 3.4.5 紫外-可见光谱(UV-vis)分析 | 第49-50页 |
| 3.4.6 热重分析(Thermogravimetric,TG) | 第50页 |
| 3.5 结果与讨论 | 第50-57页 |
| 3.5.1 二氧化锰纳米线的结构与形貌分析 | 第50-52页 |
| 3.5.2 二氧化锰纳米线的比表面与热重分析 | 第52-53页 |
| 3.5.3 二氧化锰纳米线的生长机理探讨 | 第53-55页 |
| 3.5.4 二氧化锰纳米线的吸附以及循环使用研究 | 第55-57页 |
| 3.6 本章小结 | 第57-58页 |
| 第四章 多功能化二氧化锰自支撑薄膜的制备 | 第58-71页 |
| 4.1 引言 | 第58-59页 |
| 4.2 实验试剂和仪器 | 第59-60页 |
| 4.2.1 实验试剂 | 第59-60页 |
| 4.2.2 实验仪器 | 第60页 |
| 4.3 实验内容 | 第60-61页 |
| 4.3.1 二氧化锰自支撑薄膜合成工艺 | 第60页 |
| 4.3.2 CoFe_2O_4合成工艺 | 第60-61页 |
| 4.3.3 磁性自支撑薄膜的合成工艺 | 第61页 |
| 4.3.4 疏水自支撑薄膜的合成工艺 | 第61页 |
| 4.3.5 多功能自支撑薄膜的合成工艺 | 第61页 |
| 4.4 功能化自支撑薄膜表征 | 第61-62页 |
| 4.4.1 X射线衍射(XRD)分析 | 第61页 |
| 4.4.2 场发射扫描电镜(FESEM)分析 | 第61页 |
| 4.4.3 X射线光电子能谱(XPS)分析 | 第61-62页 |
| 4.4.4 表面亲疏水角测试 | 第62页 |
| 4.4.5 磁学性能测试 | 第62页 |
| 4.5 结果与讨论 | 第62-70页 |
| 4.5.1 自支撑薄膜的结构与形貌分析 | 第62-64页 |
| 4.5.2 磁性自支撑薄膜的结构形貌与性能分析 | 第64-66页 |
| 4.5.3 疏水自支撑薄膜的性能分析 | 第66-69页 |
| 4.5.4 多功能薄膜的结构形貌与性能分析 | 第69-70页 |
| 4.6 本章小结 | 第70-71页 |
| 结论 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-85页 |
| 攻读硕士期间发表的论文 | 第85-87页 |
| 致谢 | 第87页 |
