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BESⅢ Muon前端读出电子学过流保护系统研究

摘要第5-7页
ABSTRACT第7-8页
第一章 引言第11-17页
    1.1 BESIII简介第11-12页
    1.2 BESIII μ子鉴别器简介第12-13页
    1.3 Muon读出电子学系统简介第13-14页
    1.4 过流保护系统的设计背景第14页
    1.5 论文章节安排第14-17页
第二章 过流保护系统整体方案设计第17-21页
    2.1 BESIII慢控制系统简介第17-18页
    2.2 过流保护系统设计方案第18-19页
    2.3 过流保护系统设计指标第19-21页
        2.3.1 过流保护系统功能指标第19-20页
        2.3.2 过流保护系统的性能指标第20-21页
第三章 过流保护系统硬件设计第21-29页
    3.1 过流保护板硬件电路设计方案第21页
    3.2 电源开关模块第21-25页
        3.2.1 电源开关芯片选择第21-23页
        3.2.2 电源开关模块电路设计第23-25页
    3.3 微控制器(MCU)模块第25-26页
        3.3.1 MCU与PHY芯片选择第25-26页
        3.3.2 微控制器模块电路设计第26页
    3.4 光电耦合模块第26-28页
        3.4.1 光电耦合芯片选择第26-27页
        3.4.2 光电耦合模块电路设计第27-28页
    3.5 本章小结第28-29页
第四章 下位机程序设计第29-39页
    4.1 下位机程序设计方案第29页
    4.2 实时监测模块第29-30页
    4.3 数据上传模块第30-32页
    4.4 命令解释与执行模块第32-33页
    4.5 IAP方式以太网远程更新固件的实现第33-37页
    4.6 本章小结第37-39页
第五章 上位机程序设计第39-45页
    5.1 开发工具——C第39页
    5.2 上位机程序设计方案第39-41页
    5.3 上位机程序具体设计第41-43页
    5.4 本章小结第43-45页
第六章 过流保护系统测试第45-57页
    6.1 系统样机测试平台第45页
    6.2 系统样机测试方案及测试结果第45-49页
        6.2.1 功能测试第46-47页
        6.2.2 性能测试第47-48页
        6.2.3 抗干扰测试第48-49页
        6.2.4 长期稳定性测试第49页
    6.3 快速熔断保险丝与过流保护板电源开关串联过流实验第49-51页
    6.4 现场安装与测试第51-52页
    6.5 FEC数据链双电源馈线供电启动实验第52-55页
    6.6 本章小结第55-57页
第七章 总结与展望第57-59页
    7.1 工作总结第57-58页
    7.2 展望第58-59页
参考文献第59-61页
附录第61-63页
致谢第63-65页
在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果第65页

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