| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 第一章 引言 | 第11-17页 |
| 1.1 BESIII简介 | 第11-12页 |
| 1.2 BESIII μ子鉴别器简介 | 第12-13页 |
| 1.3 Muon读出电子学系统简介 | 第13-14页 |
| 1.4 过流保护系统的设计背景 | 第14页 |
| 1.5 论文章节安排 | 第14-17页 |
| 第二章 过流保护系统整体方案设计 | 第17-21页 |
| 2.1 BESIII慢控制系统简介 | 第17-18页 |
| 2.2 过流保护系统设计方案 | 第18-19页 |
| 2.3 过流保护系统设计指标 | 第19-21页 |
| 2.3.1 过流保护系统功能指标 | 第19-20页 |
| 2.3.2 过流保护系统的性能指标 | 第20-21页 |
| 第三章 过流保护系统硬件设计 | 第21-29页 |
| 3.1 过流保护板硬件电路设计方案 | 第21页 |
| 3.2 电源开关模块 | 第21-25页 |
| 3.2.1 电源开关芯片选择 | 第21-23页 |
| 3.2.2 电源开关模块电路设计 | 第23-25页 |
| 3.3 微控制器(MCU)模块 | 第25-26页 |
| 3.3.1 MCU与PHY芯片选择 | 第25-26页 |
| 3.3.2 微控制器模块电路设计 | 第26页 |
| 3.4 光电耦合模块 | 第26-28页 |
| 3.4.1 光电耦合芯片选择 | 第26-27页 |
| 3.4.2 光电耦合模块电路设计 | 第27-28页 |
| 3.5 本章小结 | 第28-29页 |
| 第四章 下位机程序设计 | 第29-39页 |
| 4.1 下位机程序设计方案 | 第29页 |
| 4.2 实时监测模块 | 第29-30页 |
| 4.3 数据上传模块 | 第30-32页 |
| 4.4 命令解释与执行模块 | 第32-33页 |
| 4.5 IAP方式以太网远程更新固件的实现 | 第33-37页 |
| 4.6 本章小结 | 第37-39页 |
| 第五章 上位机程序设计 | 第39-45页 |
| 5.1 开发工具——C | 第39页 |
| 5.2 上位机程序设计方案 | 第39-41页 |
| 5.3 上位机程序具体设计 | 第41-43页 |
| 5.4 本章小结 | 第43-45页 |
| 第六章 过流保护系统测试 | 第45-57页 |
| 6.1 系统样机测试平台 | 第45页 |
| 6.2 系统样机测试方案及测试结果 | 第45-49页 |
| 6.2.1 功能测试 | 第46-47页 |
| 6.2.2 性能测试 | 第47-48页 |
| 6.2.3 抗干扰测试 | 第48-49页 |
| 6.2.4 长期稳定性测试 | 第49页 |
| 6.3 快速熔断保险丝与过流保护板电源开关串联过流实验 | 第49-51页 |
| 6.4 现场安装与测试 | 第51-52页 |
| 6.5 FEC数据链双电源馈线供电启动实验 | 第52-55页 |
| 6.6 本章小结 | 第55-57页 |
| 第七章 总结与展望 | 第57-59页 |
| 7.1 工作总结 | 第57-58页 |
| 7.2 展望 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-61页 |
| 附录 | 第61-63页 |
| 致谢 | 第63-65页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第65页 |