摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
第1章 绪论 | 第8-16页 |
1.1 课题背景综述 | 第8-9页 |
1.2 本课题国内外研究现状 | 第9-12页 |
1.2.1 残余应力测量方法现状 | 第9-10页 |
1.2.2 残余应力测量方法现状 | 第10-11页 |
1.2.3 异材电子束焊接研究现状 | 第11-12页 |
1.3 研究内容及研究思路 | 第12-13页 |
1.4 课题难点及创新点 | 第13-16页 |
第2章 实验装置及实验原理 | 第16-24页 |
2.1 X射线法测量原理 | 第16-19页 |
2.2 测试装置及实验平台 | 第19-21页 |
2.2.1 等强梁结构 | 第19-20页 |
2.2.2 X射线仪及电测法装置 | 第20-21页 |
2.3 应力常数K标定的原理及方法 | 第21-23页 |
2.3.1 应力测试方法 | 第21-22页 |
2.3.2 应力常数K标定原理 | 第22-23页 |
2.4 本章小结 | 第23-24页 |
第3章 TC17与Ti60的X射线衍射特性研究 | 第24-36页 |
3.1 TC17与Ti60的衍射特性研究 | 第24-26页 |
3.1.1 TC17有效衍射峰研究 | 第24-25页 |
3.1.2 Ti60有效衍射峰研究 | 第25页 |
3.1.3 关于两种材料衍射峰讨论 | 第25-26页 |
3.2 TC17应力常数K实验研究 | 第26-31页 |
3.2.1 TC17等强梁标定结果 | 第26页 |
3.2.2 TC17应力常数K修正 | 第26-31页 |
3.3 Ti60应力常数K实验研究 | 第31-34页 |
3.3.1 Ti60等强梁标定结果 | 第31页 |
3.3.2 Ti60的X射线应力常数K修正 | 第31-34页 |
3.4 分析与讨论 | 第34页 |
3.4.1 等强梁实验结果的可靠性 | 第34页 |
3.4.2 TC17衍射峰特性及应力特征 | 第34页 |
3.4.3 Ti60衍射峰特性及应力特征 | 第34页 |
3.5 本章小结 | 第34-36页 |
第4章 不同加工工艺对残余应力的影响 | 第36-46页 |
4.1 试件结构与工艺参数 | 第36-37页 |
4.2 测试方案 | 第37-38页 |
4.3 对接平板试件测试结果 | 第38-41页 |
4.4 三块对接平板残余应力对比 | 第41-43页 |
4.5 焊接工艺对残余应力的影响 | 第43-44页 |
4.6 本章小结 | 第44-46页 |
第5章 热处理工艺对残余应力的影响 | 第46-56页 |
5.1 热处理及测试方案 | 第46-47页 |
5.2 热处理试件测试结果 | 第47-50页 |
5.3 热处理工艺分析 | 第50-53页 |
5.4 优化工艺分析 | 第53页 |
5.5 本章小结 | 第53-56页 |
第6章 薄壁圆环异材焊接结构的残余应力分布 | 第56-64页 |
6.1 圆环结构概况 | 第56页 |
6.2 圆环测试方案 | 第56-57页 |
6.3 测试结果 | 第57-61页 |
6.4 两圆环结构在平行与垂直焊缝方向残余应力对比 | 第61-62页 |
6.5 圆环结构残余应力分布规律 | 第62-63页 |
6.6 本章小结 | 第63-64页 |
结论 | 第64-66页 |
参考文献 | 第66-70页 |
攻读硕士期间发表的学术论文 | 第70-72页 |
致谢 | 第72页 |