| 摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-15页 |
| 1.1 研究背景 | 第10页 |
| 1.2 研究目的和意义 | 第10-11页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第11-13页 |
| 1.3.1 检测信息自动标注的研究现状 | 第11-12页 |
| 1.3.2 检测设备资源分配的研究现状 | 第12-13页 |
| 1.4 论文主要研究内容与结构安排 | 第13-15页 |
| 1.4.1 主要研究工作 | 第13页 |
| 1.4.2 论文章节安排 | 第13-15页 |
| 第2章 MBD检测工艺模型尺寸规范化自动校正处理 | 第15-30页 |
| 2.1 引言 | 第15页 |
| 2.2 尺寸特征的建立与关联对象的定义 | 第15-16页 |
| 2.2.1 尺寸特征的建立 | 第15-16页 |
| 2.2.2 关联对象与标注对象的表达模型 | 第16页 |
| 2.2.3 关联对象的定义 | 第16页 |
| 2.3 模型尺寸规范化处理 | 第16-19页 |
| 2.3.1 尺寸规范化流程 | 第16-17页 |
| 2.3.2 距离尺寸规范化校正规则 | 第17-19页 |
| 2.3.3 角度尺寸规范化校正规则 | 第19页 |
| 2.3.4 直径或半径尺寸规范化校正规则 | 第19页 |
| 2.4 实验分析与验证 | 第19-29页 |
| 2.5 本章小结 | 第29-30页 |
| 第3章 MBD检测工艺模型中阵列特征信息的自动补全 | 第30-44页 |
| 3.1 引言 | 第30页 |
| 3.2 点云数据进行配准的原理和常用算法 | 第30-33页 |
| 3.2.1 PCA算法 | 第30-31页 |
| 3.2.2 ICP算法 | 第31-33页 |
| 3.3 改进阵列特征成员配准流程 | 第33-38页 |
| 3.3.1 点云坐标归一 | 第34-36页 |
| 3.3.2 改进的ICP算法 | 第36-38页 |
| 3.3.3 阵列特征中PMI的自动标注 | 第38页 |
| 3.4 实例分析与验证 | 第38-43页 |
| 3.5 本章小结 | 第43-44页 |
| 第4章 检测设备资源的检索与优化配置 | 第44-52页 |
| 4.1 引言 | 第44页 |
| 4.2 检测设备资源的层次检索方法 | 第44-46页 |
| 4.2.1 检测设备资源的检索模型 | 第44-45页 |
| 4.2.2 检测设备资源的检索过程 | 第45-46页 |
| 4.3 检测设备资源的优化配置 | 第46-48页 |
| 4.3.1 归一化 | 第46-47页 |
| 4.3.2 相似性系数的确定 | 第47-48页 |
| 4.3.3 聚类 | 第48页 |
| 4.3.4 最优资源的确定 | 第48页 |
| 4.4 算法验证 | 第48-51页 |
| 4.5 本章小结 | 第51-52页 |
| 第5章 数字化检测工艺系统二次开发 | 第52-66页 |
| 5.1 PMI标注模块与UG/NX二次开发技术研究 | 第52-61页 |
| 5.1.1 基于NX/UG数字化检测系统的PMI标注模块研究 | 第52页 |
| 5.1.2 基于UG/NX二次开发技术研究 | 第52-54页 |
| 5.1.3 检测工艺模型标注规范化自动校正模块 | 第54-57页 |
| 5.1.4 检测工艺模型阵列信息自动补全模块 | 第57-59页 |
| 5.1.5 检测设备资源检索模块 | 第59-61页 |
| 5.2 规范化自动校正模块应用 | 第61-62页 |
| 5.3 阵列信息自动补全模块应用 | 第62-64页 |
| 5.4 检测设备资源检索模块应用 | 第64-65页 |
| 5.5 本章小结 | 第65-66页 |
| 结论 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 攻读硕士期间发表（含录用）的学术论文 | 第72页 |
