基于ABF的子阵级自适应检测方法研究
摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第1章 绪论 | 第9-16页 |
1.1 课题研究的背景和意义 | 第9-11页 |
1.2 国内外在该方向的研究现状及分析 | 第11-14页 |
1.3 本文的主要研究内容 | 第14-16页 |
第2章 子阵级自适应波束形成 | 第16-23页 |
2.1 引言 | 第16页 |
2.2 子阵级阵列处理的信号模型 | 第16-17页 |
2.2.1 窄带信号的定义 | 第16-17页 |
2.2.2 子阵级二维信号模型 | 第17页 |
2.3 采样矩阵求逆 SMI | 第17-19页 |
2.3.1 算法原理 | 第18页 |
2.3.2 算法实现 | 第18-19页 |
2.4 仿真结果及分析 | 第19-22页 |
2.5 本章小结 | 第22-23页 |
第3章 改进的自适应波束形成方法 | 第23-44页 |
3.1 引言 | 第23页 |
3.2 对角加载采样矩阵求逆方法 | 第23-27页 |
3.2.1 对角加载的提出 | 第23-25页 |
3.2.2 对角加载的的实现 | 第25页 |
3.2.3 加载值的选择 | 第25-27页 |
3.3 约束自适应波束合成方法 | 第27-34页 |
3.3.1 子空间投影方法 | 第27-29页 |
3.3.2 罚函数法 | 第29-31页 |
3.3.3 约束自适应波束合成方法 | 第31-34页 |
3.4 仿真结果及分析 | 第34-42页 |
3.4.1 特征值分析 | 第34-36页 |
3.4.2 对角加载的性能比较 | 第36-37页 |
3.4.3 快拍对子空间投影方法的影响 | 第37-39页 |
3.4.4 罚函数与加载值的关系 | 第39-41页 |
3.4.5 约束自适应波束合成 | 第41-42页 |
3.5 本章小结 | 第42-44页 |
第4章 广义似然比检测 | 第44-58页 |
4.1 引言 | 第44页 |
4.2 似然比检测 | 第44-45页 |
4.3 GLRT 检测的实现 | 第45-48页 |
4.4 检测门限的确定 | 第48页 |
4.5 仿真结果及分析 | 第48-57页 |
4.5.1 SMI 方法的检测性能分析 | 第49-50页 |
4.5.2 LSMI 方法的检测性能分析 | 第50-51页 |
4.5.3 CAPS 方法的检测性能分析 | 第51-53页 |
4.5.4 广义似然比检测性能比较 | 第53-57页 |
4.6 本章小结 | 第57-58页 |
第5章 自适应匹配滤波检测 | 第58-70页 |
5.1 引言 | 第58页 |
5.2 AMF 检测器原理 | 第58页 |
5.3 检测门限的确定 | 第58-59页 |
5.4 AMF 的检测性能 | 第59-60页 |
5.5 仿真结果及分析 | 第60-67页 |
5.5.1 SMI 方法的检测性能分析 | 第60-61页 |
5.5.2 LSMI 方法的检测性能分析 | 第61-62页 |
5.5.3 CAPS 方法的检测性能分析 | 第62-64页 |
5.5.4 自适应匹配滤波检测性能比较 | 第64-67页 |
5.6 GLRT 与 AMF 检测性能比较 | 第67-68页 |
5.7 本章小结 | 第68-70页 |
结论 | 第70-71页 |
参考文献 | 第71-76页 |
致谢 | 第76页 |