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基于ABF的子阵级自适应检测方法研究

摘要第4-5页
Abstract第5-6页
第1章 绪论第9-16页
    1.1 课题研究的背景和意义第9-11页
    1.2 国内外在该方向的研究现状及分析第11-14页
    1.3 本文的主要研究内容第14-16页
第2章 子阵级自适应波束形成第16-23页
    2.1 引言第16页
    2.2 子阵级阵列处理的信号模型第16-17页
        2.2.1 窄带信号的定义第16-17页
        2.2.2 子阵级二维信号模型第17页
    2.3 采样矩阵求逆 SMI第17-19页
        2.3.1 算法原理第18页
        2.3.2 算法实现第18-19页
    2.4 仿真结果及分析第19-22页
    2.5 本章小结第22-23页
第3章 改进的自适应波束形成方法第23-44页
    3.1 引言第23页
    3.2 对角加载采样矩阵求逆方法第23-27页
        3.2.1 对角加载的提出第23-25页
        3.2.2 对角加载的的实现第25页
        3.2.3 加载值的选择第25-27页
    3.3 约束自适应波束合成方法第27-34页
        3.3.1 子空间投影方法第27-29页
        3.3.2 罚函数法第29-31页
        3.3.3 约束自适应波束合成方法第31-34页
    3.4 仿真结果及分析第34-42页
        3.4.1 特征值分析第34-36页
        3.4.2 对角加载的性能比较第36-37页
        3.4.3 快拍对子空间投影方法的影响第37-39页
        3.4.4 罚函数与加载值的关系第39-41页
        3.4.5 约束自适应波束合成第41-42页
    3.5 本章小结第42-44页
第4章 广义似然比检测第44-58页
    4.1 引言第44页
    4.2 似然比检测第44-45页
    4.3 GLRT 检测的实现第45-48页
    4.4 检测门限的确定第48页
    4.5 仿真结果及分析第48-57页
        4.5.1 SMI 方法的检测性能分析第49-50页
        4.5.2 LSMI 方法的检测性能分析第50-51页
        4.5.3 CAPS 方法的检测性能分析第51-53页
        4.5.4 广义似然比检测性能比较第53-57页
    4.6 本章小结第57-58页
第5章 自适应匹配滤波检测第58-70页
    5.1 引言第58页
    5.2 AMF 检测器原理第58页
    5.3 检测门限的确定第58-59页
    5.4 AMF 的检测性能第59-60页
    5.5 仿真结果及分析第60-67页
        5.5.1 SMI 方法的检测性能分析第60-61页
        5.5.2 LSMI 方法的检测性能分析第61-62页
        5.5.3 CAPS 方法的检测性能分析第62-64页
        5.5.4 自适应匹配滤波检测性能比较第64-67页
    5.6 GLRT 与 AMF 检测性能比较第67-68页
    5.7 本章小结第68-70页
结论第70-71页
参考文献第71-76页
致谢第76页

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