| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 符号对照表 | 第13-14页 |
| 缩略语对照表 | 第14-17页 |
| 第一章 绪论 | 第17-21页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第17-18页 |
| 1.2 国内外的研究现状和发展趋势 | 第18-20页 |
| 1.3 论文的研究目标及主要内容 | 第20-21页 |
| 第二章 折叠内插模数转换器以及行为级建模的介绍 | 第21-35页 |
| 2.1 模数转换器的性能参数 | 第21-23页 |
| 2.1.1 静态性能参数 | 第21-22页 |
| 2.1.2 动态性能参数 | 第22-23页 |
| 2.2 折叠内插ADC的电路分析 | 第23-31页 |
| 2.2.1 折叠概念 | 第24-27页 |
| 2.2.2 线性折叠 | 第27-28页 |
| 2.2.3 正弦折叠 | 第28-30页 |
| 2.2.4 内插电路 | 第30-31页 |
| 2.3 基于Simulink的行为级建模分析 | 第31-33页 |
| 2.3.1 行为级建模以及Simulink软件简介 | 第31-32页 |
| 2.3.2 折叠内插ADC行为级建模考虑因素 | 第32-33页 |
| 2.4 本章小结 | 第33-35页 |
| 第三章 采样保持电路的行为级建模和仿真 | 第35-53页 |
| 3.1 THA采样开关的频率响应及非理想效应的行为级建模 | 第35-40页 |
| 3.1.1 THA采样开关的频率响应与转换速率 | 第36-37页 |
| 3.1.2 THA中时间常数和数据获取时间 | 第37-39页 |
| 3.1.3 孔径时间和有效孔径延迟时间 | 第39-40页 |
| 3.2 THA保持电容的非理想效应的行为级建模 | 第40-45页 |
| 3.2.1 台阶效应和电容放电 | 第40-42页 |
| 3.2.2 KT/C热噪声 | 第42-44页 |
| 3.2.3 输入馈通 | 第44-45页 |
| 3.2.4 失调电压 | 第45页 |
| 3.3 THA电路行为级模型的仿真 | 第45-48页 |
| 3.4 THA电路模型中非理想效应的分析讨论与电路级仿真对比 | 第48-52页 |
| 3.4.1 保持电容、孔径时间、输入馈通对THA电路性能的影响 | 第49-51页 |
| 3.4.2 THA行为级模型与电路级仿真结果的对比 | 第51-52页 |
| 3.5 本章小结 | 第52-53页 |
| 第四章 折叠内插电路的行为级建模和仿真 | 第53-71页 |
| 4.1 折叠内插ADC的行为级建模 | 第53-63页 |
| 4.1.1 折叠放大器的行为级建模及仿真 | 第53-57页 |
| 4.1.2 内插电路的行为级模型及仿真 | 第57-61页 |
| 4.1.3 比较器的行为级模型 | 第61-62页 |
| 4.1.4 编码电路的行为级模型 | 第62-63页 |
| 4.2 折叠内插ADC行为级模型的Simulink仿真 | 第63-66页 |
| 4.2.1 折叠内插ADC行为级模型的时域仿真 | 第63-64页 |
| 4.2.2 折叠内插ADC中非理想因素的仿真分析 | 第64-66页 |
| 4.3 ADC行为级模型仿真结果与流片结果的对比 | 第66-69页 |
| 4.4 本章小结 | 第69-71页 |
| 第五章 总结与展望 | 第71-73页 |
| 5.1 论文总结 | 第71页 |
| 5.2 研究展望 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-77页 |
| 致谢 | 第77-79页 |
| 作者简介 | 第79页 |
