| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-20页 |
| ·课题背景和研究意义 | 第10-11页 |
| ·热电效应理论基础 | 第11-14页 |
| ·塞贝克（Seebeck）效应 | 第11-12页 |
| ·帕尔贴(Peltier)效应 | 第12-13页 |
| ·汤姆逊（Thomson）效应 | 第13页 |
| ·材料的热电性能参数 | 第13-14页 |
| ·钛酸锶薄膜合成的研究进展 | 第14-16页 |
| ·溶胶-凝胶法 | 第15页 |
| ·激光脉冲轰击法 | 第15页 |
| ·磁控溅射法 | 第15-16页 |
| ·等离子体增强化学气相淀积法 | 第16页 |
| ·钛酸锶基热电材料的性能研究现状 | 第16-19页 |
| ·掺杂稀土元素 | 第16-17页 |
| ·新的合成工艺条件和制备工艺的研究 | 第17-18页 |
| ·低维化 | 第18页 |
| ·复合化 | 第18-19页 |
| ·本文的主要研究内容 | 第19-20页 |
| 第2章 实验材料与表征方法 | 第20-25页 |
| ·实验材料 | 第20-21页 |
| ·前驱胶体制备所需实验材料 | 第20页 |
| ·薄膜制备所用实验材料 | 第20-21页 |
| ·薄膜的组织结构表征方法 | 第21-23页 |
| ·X 射线衍射分析（XRD） | 第21-22页 |
| ·扫描电镜分析（SEM） | 第22页 |
| ·热重分析（TG） | 第22页 |
| ·原子力显微镜（AFM） | 第22-23页 |
| ·热电性能测试 | 第23-25页 |
| ·电导率的测试 | 第23页 |
| ·Seebeck 系数的测试 | 第23-25页 |
| 第3章 La 掺杂SrTiO_3 薄膜的制备与热电性能 | 第25-46页 |
| ·SrTiO_3 薄膜的制备 | 第25-30页 |
| ·SrTiO_3 前驱胶体的制备 | 第25-26页 |
| ·凝胶的热重分析 | 第26页 |
| ·薄膜的制备和预热处理以及退火烧结 | 第26-27页 |
| ·SrTiO_3 薄膜的结构形貌分析 | 第27-30页 |
| ·La_x5r_(1-x)TiO_3 薄膜的制备及表征 | 第30-34页 |
| ·La_x5r_(1-x)TiO_3 薄膜的制备 | 第30-31页 |
| ·La_x5r_(1-x)TiO_3 薄膜的结构表征 | 第31-34页 |
| ·La_x5r_(1-x)TiO_3 薄膜的半导化 | 第34-37页 |
| ·La_x5r_(1-x)TiO_3 薄膜的半导化 | 第34-35页 |
| ·La_x5r_(1-x)TiO_3 薄膜的半导化后的结构形貌 | 第35-37页 |
| ·La 掺杂对薄膜热电性能的影响 | 第37-45页 |
| ·La 掺杂对SrTiO_3 薄膜电导率的影响 | 第37-40页 |
| ·La 掺杂对SrTiO_3 薄膜Seebeck 系数的影响 | 第40-43页 |
| ·La 掺杂对SrTiO_3 薄膜功率因子的影响 | 第43-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第4章 Ag复合SrTiO_3 薄膜的制备与热电性能 | 第46-57页 |
| ·SrTiO_3/xAg 薄膜的制备 | 第46-47页 |
| ·SrTiO_3/xAg 前驱胶体的制备 | 第46-47页 |
| ·SrTiO_3/xAg 薄膜的制备 | 第47页 |
| ·SrTiO_3/xAg 薄膜的组织结构表征 | 第47-52页 |
| ·SrTiO_3/xAg 薄膜的物相分析 | 第47-48页 |
| ·SrTiO_3/xAg 薄膜的表面形貌 | 第48-49页 |
| ·SrTiO_3/xAg 薄膜的断口形貌 | 第49-50页 |
| ·SrTiO_3/xAg 薄膜的表面的Ag 分布 | 第50-51页 |
| ·SrTiO_3/xAg 薄膜的AFM 分析 | 第51-52页 |
| ·复合Ag 对SrTiO_3 薄膜热电性能的影响 | 第52-55页 |
| ·复合Ag 对SrTiO_3 薄膜电导率的影响 | 第52-53页 |
| ·复合Ag 对SrTiO_3 薄膜Seebeck 系数的影响 | 第53-55页 |
| ·复合Ag 对SrTiO_3 薄膜功率因子的影响 | 第55页 |
| ·本章小结 | 第55-57页 |
| 结论 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-63页 |
| 致谢 | 第63页 |
