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推扫式宽视场CCD成像光谱技术研究

致谢第1-5页
摘要第5-6页
ABSTRACT第6-8页
目录第8-11页
1 引言第11-17页
   ·海洋遥感与成像光谱技术介绍第11-12页
   ·星载成像光谱技术国内外发展现状第12-15页
     ·美国 EOS-AM-1 卫星上的 MODIS第12-13页
     ·日本的 ADEOS 上的 GLI第13页
     ·“神舟三号”中分辨率成像光谱仪(MORIS)第13页
     ·“风云三号”气象卫星中分辨率成像光谱仪(FY3-MERSI)第13页
     ·欧空局 Envisat 卫星上的 MERIS第13-14页
     ·美国 NEMO 卫星上的 COIS第14页
     ·美国 EO-1 卫星上的 Hyperion第14-15页
     ·日本 GCOM-C 卫星的上的 SGLI第15页
   ·成像光谱仪的发展趋势第15-16页
     ·推扫逐渐成为主流扫描方式第15页
     ·定量化要求越来越高第15页
     ·光谱分辨率将进一步提高第15-16页
   ·论文主要研究内容第16-17页
2 系统方案设计第17-27页
   ·系统指标与通道配置第17-18页
   ·宽视场可见近红外成像光谱仪设计方案第18-24页
     ·探测器的选择第20-21页
     ·分光组件的选择第21-23页
     ·前置镜头的设计第23-24页
     ·消二级滤光片的设计第24页
   ·系统动态范围和信噪比的计算第24-26页
   ·本章小结第26-27页
3 宽视场成像光谱仪电子学系统设计第27-41页
   ·CCD55-30 探测器供电和驱动电路的设计第28-31页
   ·CCD55-30 探测器模拟信号处理电路的设计和分析第31-36页
     ·模拟信号处理电路的设计第31-34页
     ·模拟信号处理电路的性能分析第34-36页
   ·FPGA 时序和数传逻辑的设计第36-39页
   ·地面检测系统的设计第39-40页
   ·本章小结第40-41页
4 系统的装校与测试第41-51页
   ·系统光校方案设计第41-45页
     ·系统的空间 MTF 模型与光谱分辨能力模型第41-42页
     ·系统的真空离焦量第42-43页
     ·系统光校方案第43-45页
   ·外场推扫成像结果第45-47页
   ·系统灵敏度测试第47-49页
   ·系统杂散光测试第49-50页
   ·本章小结第50-51页
5 CCD 拖尾现象对推扫式成像光谱仪的影响及消除方法第51-63页
   ·常规的 CCD 拖尾现象扣除方法第51-52页
   ·推扫式成像光谱仪中 CCD 拖尾现象的数学模型第52-54页
   ·常规 CCD 拖尾扣除方法在推扫式成像光谱仪中的局限性第54-56页
   ·适用于推扫式成像光谱仪的 CCD 拖尾现象扣除新方法第56-59页
   ·新 CCD 拖尾扣除方法的扣除效果第59-60页
   ·本章小结第60-63页
6 推扫式宽视场成像光谱仪的杂散光特性与杂散光矫正第63-93页
   ·宽视场成像光谱仪的“拖影”现象及分光组件的杂散光问题第63-70页
     ·外场成像中的“拖影”第63-64页
     ·全帧图像中杂散光分布第64-65页
     ·V10M 分光组件的拆解和杂散光问题的定位第65-70页
   ·一种基于杂散光矩阵的模型及杂散光矫正算法第70-76页
     ·由杂散光矩阵描述的系统杂散光模型第70-72页
     ·杂散光矩阵的测量与构建第72-74页
     ·基于杂散光矩阵的杂散光矫正方法第74-76页
   ·推扫式成像光谱仪的杂散光模型及杂散光矫正方法第76-87页
     ·系统图像的数学符号定义第76-77页
     ·狭缝前光学部件的杂散光模型第77-78页
     ·狭缝后光学部件的杂散光模型第78-79页
     ·推扫式成像光谱仪的杂散光模型第79-85页
     ·推扫式成像光谱仪的杂散光矫正方法第85-87页
   ·更换 V10M 分光组件光栅后的系统杂散光模型及杂散光矫正第87-91页
     ·更换光栅后推扫式成像光谱仪的杂散光模型第87-90页
     ·更换光栅后推扫式成像光谱仪的杂散光矫正方法第90-91页
   ·本章小结第91-93页
7 总结和展望第93-95页
参考文献第95-99页
作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果第99页

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