致谢 | 第1-5页 |
摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-8页 |
目录 | 第8-11页 |
1 引言 | 第11-17页 |
·海洋遥感与成像光谱技术介绍 | 第11-12页 |
·星载成像光谱技术国内外发展现状 | 第12-15页 |
·美国 EOS-AM-1 卫星上的 MODIS | 第12-13页 |
·日本的 ADEOS 上的 GLI | 第13页 |
·“神舟三号”中分辨率成像光谱仪(MORIS) | 第13页 |
·“风云三号”气象卫星中分辨率成像光谱仪(FY3-MERSI) | 第13页 |
·欧空局 Envisat 卫星上的 MERIS | 第13-14页 |
·美国 NEMO 卫星上的 COIS | 第14页 |
·美国 EO-1 卫星上的 Hyperion | 第14-15页 |
·日本 GCOM-C 卫星的上的 SGLI | 第15页 |
·成像光谱仪的发展趋势 | 第15-16页 |
·推扫逐渐成为主流扫描方式 | 第15页 |
·定量化要求越来越高 | 第15页 |
·光谱分辨率将进一步提高 | 第15-16页 |
·论文主要研究内容 | 第16-17页 |
2 系统方案设计 | 第17-27页 |
·系统指标与通道配置 | 第17-18页 |
·宽视场可见近红外成像光谱仪设计方案 | 第18-24页 |
·探测器的选择 | 第20-21页 |
·分光组件的选择 | 第21-23页 |
·前置镜头的设计 | 第23-24页 |
·消二级滤光片的设计 | 第24页 |
·系统动态范围和信噪比的计算 | 第24-26页 |
·本章小结 | 第26-27页 |
3 宽视场成像光谱仪电子学系统设计 | 第27-41页 |
·CCD55-30 探测器供电和驱动电路的设计 | 第28-31页 |
·CCD55-30 探测器模拟信号处理电路的设计和分析 | 第31-36页 |
·模拟信号处理电路的设计 | 第31-34页 |
·模拟信号处理电路的性能分析 | 第34-36页 |
·FPGA 时序和数传逻辑的设计 | 第36-39页 |
·地面检测系统的设计 | 第39-40页 |
·本章小结 | 第40-41页 |
4 系统的装校与测试 | 第41-51页 |
·系统光校方案设计 | 第41-45页 |
·系统的空间 MTF 模型与光谱分辨能力模型 | 第41-42页 |
·系统的真空离焦量 | 第42-43页 |
·系统光校方案 | 第43-45页 |
·外场推扫成像结果 | 第45-47页 |
·系统灵敏度测试 | 第47-49页 |
·系统杂散光测试 | 第49-50页 |
·本章小结 | 第50-51页 |
5 CCD 拖尾现象对推扫式成像光谱仪的影响及消除方法 | 第51-63页 |
·常规的 CCD 拖尾现象扣除方法 | 第51-52页 |
·推扫式成像光谱仪中 CCD 拖尾现象的数学模型 | 第52-54页 |
·常规 CCD 拖尾扣除方法在推扫式成像光谱仪中的局限性 | 第54-56页 |
·适用于推扫式成像光谱仪的 CCD 拖尾现象扣除新方法 | 第56-59页 |
·新 CCD 拖尾扣除方法的扣除效果 | 第59-60页 |
·本章小结 | 第60-63页 |
6 推扫式宽视场成像光谱仪的杂散光特性与杂散光矫正 | 第63-93页 |
·宽视场成像光谱仪的“拖影”现象及分光组件的杂散光问题 | 第63-70页 |
·外场成像中的“拖影” | 第63-64页 |
·全帧图像中杂散光分布 | 第64-65页 |
·V10M 分光组件的拆解和杂散光问题的定位 | 第65-70页 |
·一种基于杂散光矩阵的模型及杂散光矫正算法 | 第70-76页 |
·由杂散光矩阵描述的系统杂散光模型 | 第70-72页 |
·杂散光矩阵的测量与构建 | 第72-74页 |
·基于杂散光矩阵的杂散光矫正方法 | 第74-76页 |
·推扫式成像光谱仪的杂散光模型及杂散光矫正方法 | 第76-87页 |
·系统图像的数学符号定义 | 第76-77页 |
·狭缝前光学部件的杂散光模型 | 第77-78页 |
·狭缝后光学部件的杂散光模型 | 第78-79页 |
·推扫式成像光谱仪的杂散光模型 | 第79-85页 |
·推扫式成像光谱仪的杂散光矫正方法 | 第85-87页 |
·更换 V10M 分光组件光栅后的系统杂散光模型及杂散光矫正 | 第87-91页 |
·更换光栅后推扫式成像光谱仪的杂散光模型 | 第87-90页 |
·更换光栅后推扫式成像光谱仪的杂散光矫正方法 | 第90-91页 |
·本章小结 | 第91-93页 |
7 总结和展望 | 第93-95页 |
参考文献 | 第95-99页 |
作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第99页 |