运用投影测量针对典型量子系统的系统辨识方法研究
| 摘要 | 第1-10页 |
| ABSTRACT | 第10-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-18页 |
| ·选题依据 | 第12-13页 |
| ·本文研究意义 | 第13页 |
| ·国内外研究状况 | 第13-15页 |
| ·量子控制的兴起 | 第13-14页 |
| ·从经典系统辨识到量子系统辨识 | 第14-15页 |
| ·量子系统辨识的研究状况 | 第15页 |
| ·本文主要内容与结构 | 第15-18页 |
| 第二章 量子力学基础知识 | 第18-30页 |
| ·量子力学基本假设 | 第18-23页 |
| ·态矢量型描述 | 第18-22页 |
| ·密度算子型描述 | 第22-23页 |
| ·Bloch 球 | 第23-29页 |
| ·Bloch 球 | 第23-25页 |
| ·Bloch 球几何描述 | 第25-29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 量子系统辨识仿真实验基础 | 第30-35页 |
| ·Bloch 向量方程与量子系统演化 | 第30-31页 |
| ·投影测量与量子系统状态 | 第31-33页 |
| ·投影测量的计算机模拟 | 第33页 |
| ·仿真实验流程 | 第33-34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 第四章 类氢原子自发辐射系统辨识 | 第35-48页 |
| ·自发辐射系统简介及参数真值设定 | 第35-37页 |
| ·自发辐射系统简介 | 第35页 |
| ·自发辐射系统参数真值设定 | 第35-36页 |
| ·二能级开放量子系统可完全辨识的充分条件 | 第36-37页 |
| ·针对自发辐射系统演化的参数估计方法 | 第37-42页 |
| ·模型参数 | 第37-38页 |
| ·辨识数据 | 第38-41页 |
| ·判别准则 | 第41-42页 |
| ·仿真实验及结果讨论 | 第42-46页 |
| ·仿真结果 | 第42-46页 |
| ·结果讨论 | 第46页 |
| ·本章小结 | 第46-48页 |
| 第五章 二量子位自旋链系统辨识 | 第48-55页 |
| ·自旋链系统简介及仿真设定 | 第48页 |
| ·针对自旋链系统演化的参数估计方法 | 第48-52页 |
| ·模型参数 | 第49-51页 |
| ·辨识数据 | 第51页 |
| ·判别准则 | 第51-52页 |
| ·仿真实验及结果讨论 | 第52-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第六章 单光子线性光学系统辨识 | 第55-70页 |
| ·线性光学系统简介、描述方法及光路图 | 第55-61页 |
| ·线性光学系统简介 | 第55页 |
| ·线性光学系统的矩阵描述 | 第55-60页 |
| ·一个用于辨识光子态的投影测量光路 | 第60-61页 |
| ·针对单光子 Hamilton 量的参数估计方法 | 第61-67页 |
| ·模型参数 | 第61页 |
| ·辨识数据 | 第61-66页 |
| ·判别准则 | 第66-67页 |
| ·仿真实验及结果讨论 | 第67-69页 |
| ·本章小结 | 第69-70页 |
| 第七章 辨识精度分析 | 第70-84页 |
| ·辨识精度的描述方法 | 第70页 |
| ·测量误差与状态差异 | 第70-79页 |
| ·测量基偏斜 | 第70-73页 |
| ·投影测量次数 | 第73-76页 |
| ·测量误报概率 | 第76-79页 |
| ·离散采样方式与模型类 | 第79-80页 |
| ·周期性采样 | 第79页 |
| ·非周期性采样 | 第79-80页 |
| ·辨识精度仿真模拟 | 第80-83页 |
| ·测量基偏斜对辨识精度的影响 | 第80-81页 |
| ·测量次数和误报概率对辨识精度的影响 | 第81-82页 |
| ·采样周期和采样次数对辨识精度的影响 | 第82-83页 |
| ·本章小结 | 第83-84页 |
| 第八章 总结与展望 | 第84-86页 |
| ·论文总结 | 第84-85页 |
| ·工作展望 | 第85-86页 |
| 致谢 | 第86-88页 |
| 参考文献 | 第88-92页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第92页 |
