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Bi2Te3一维纳米结构的可控制备与表征

摘要第1-5页
Abstract第5-9页
第一章 绪论第9-22页
   ·引言第9-11页
   ·拓扑绝缘体的发现第11-12页
   ·一维纳米材料的研究第12-20页
     ·一维纳米结构的几种基本机构类型第13-17页
     ·一维纳米材料的生长机制第17-20页
   ·本论文研究的内容与意义第20-22页
第二章 实验方法第22-29页
   ·前言第22-23页
   ·Bi_2Te_3一维纳米结构的可控制备实验方案第23-25页
     ·衬底准备第23页
     ·实验装置第23-24页
     ·制备过程第24-25页
   ·样品的表征与测试第25-29页
     ·X射线衍射(XRD)第25-26页
     ·扫描电子显微镜(SEM)第26-27页
     ·X射线能谱仪(EDX)第27页
     ·投射电镜(TEM)第27-29页
第三章 金膜对Bi_2Te_3一维纳米结构的影响第29-32页
   ·前言第29-30页
   ·样品制备及实验方法第30-31页
   ·样品的表征第31-32页
第四章 不同实验参数对Bi_2Te_3一维纳米结构的影响第32-38页
   ·前言第32页
   ·样品的制备及实验方法第32-33页
   ·Bi_2Te_3一维纳米结构的形貌及结构成分表征第33-35页
   ·实验条件对一维Bi_2Te_3纳米结构的影响第35-37页
     ·载气流速对一维Bi_2Te_3纳米结构的影响第35-36页
     ·沉积温度对一维Bi_2Te_3纳米结构的影响第36-37页
   ·本章小结第37-38页
第五章 总结与展望第38-40页
参考文献第40-45页
致谢第45-46页

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