摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-9页 |
第一章 绪论 | 第9-22页 |
·引言 | 第9-11页 |
·拓扑绝缘体的发现 | 第11-12页 |
·一维纳米材料的研究 | 第12-20页 |
·一维纳米结构的几种基本机构类型 | 第13-17页 |
·一维纳米材料的生长机制 | 第17-20页 |
·本论文研究的内容与意义 | 第20-22页 |
第二章 实验方法 | 第22-29页 |
·前言 | 第22-23页 |
·Bi_2Te_3一维纳米结构的可控制备实验方案 | 第23-25页 |
·衬底准备 | 第23页 |
·实验装置 | 第23-24页 |
·制备过程 | 第24-25页 |
·样品的表征与测试 | 第25-29页 |
·X射线衍射(XRD) | 第25-26页 |
·扫描电子显微镜(SEM) | 第26-27页 |
·X射线能谱仪(EDX) | 第27页 |
·投射电镜(TEM) | 第27-29页 |
第三章 金膜对Bi_2Te_3一维纳米结构的影响 | 第29-32页 |
·前言 | 第29-30页 |
·样品制备及实验方法 | 第30-31页 |
·样品的表征 | 第31-32页 |
第四章 不同实验参数对Bi_2Te_3一维纳米结构的影响 | 第32-38页 |
·前言 | 第32页 |
·样品的制备及实验方法 | 第32-33页 |
·Bi_2Te_3一维纳米结构的形貌及结构成分表征 | 第33-35页 |
·实验条件对一维Bi_2Te_3纳米结构的影响 | 第35-37页 |
·载气流速对一维Bi_2Te_3纳米结构的影响 | 第35-36页 |
·沉积温度对一维Bi_2Te_3纳米结构的影响 | 第36-37页 |
·本章小结 | 第37-38页 |
第五章 总结与展望 | 第38-40页 |
参考文献 | 第40-45页 |
致谢 | 第45-46页 |