| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-21页 |
| ·热电学研究简史 | 第11-12页 |
| ·热电效应简介 | 第12-14页 |
| ·Seebeck 效应 | 第12-13页 |
| ·Peltier 效应 | 第13页 |
| ·Thomson 效应 | 第13-14页 |
| ·热电材料的性能参数和输运特性 | 第14-17页 |
| ·Seebeck 系数 | 第14-15页 |
| ·电导率 | 第15页 |
| ·热导率 | 第15-16页 |
| ·热电优值 ZT | 第16-17页 |
| ·国内外对于 Si_yGe_(1-y)、Mg_2Si_(1-x)Sn_x热电材料的研究现状及意义 | 第17-19页 |
| ·本论文的研究意义和研究内容 | 第19-21页 |
| ·本论文的研究意义 | 第19页 |
| ·本论文的研究内容 | 第19-21页 |
| 第2章 硅化物热电材料试样的制备及测试方法 | 第21-24页 |
| ·实验所用原材料和制备仪器 | 第21页 |
| ·实验原材料信息 | 第21页 |
| ·实验设备及仪器 | 第21页 |
| ·制备方法 | 第21-22页 |
| ·样品的物相和微观结构分析 | 第22-23页 |
| ·材料的热电性能测试 | 第23-24页 |
| 第3章 X（X=Ga,Sb)掺杂的 SiGe 合金热电材料 | 第24-36页 |
| ·实验方法 | 第24-25页 |
| ·Ga 掺杂 Si_(80)Ge_(20)热电材料 | 第25-30页 |
| ·Ga 掺杂 Si_(80)Ge_(20)的物相分析 | 第25-26页 |
| ·Ga 掺杂 Si_(80)Ge_(20)的微观结构 | 第26-27页 |
| ·Ga 掺杂 Si_(80)Ge_(20)的热电性能 | 第27-30页 |
| ·Sb 掺杂 Si_(80)Ge_(20)热电材料 | 第30-34页 |
| ·Sb 掺杂 Si_(80)Ge_(20)的物相分析 | 第30-31页 |
| ·Sb 掺杂 Si_(80)Ge_(20)的热电性能分析 | 第31-34页 |
| ·本章小结 | 第34-36页 |
| 第4章 Sb 掺杂 Mg_2Si_(1-x)Sn_x热电材料 | 第36-47页 |
| ·实验方法 | 第36-37页 |
| ·物相分析 | 第37-39页 |
·Sb 掺杂 Mg_2Si_(1-x)Sn_x（0.3| 第39-46页 | |
| ·烧结样品的热电性能 | 第39-41页 |
| ·热压样品的热电性能 | 第41-44页 |
| ·热压后退火样品的热电性能 | 第44-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第5章 La、Bi 共掺的 Mg_2Si_(1-x)Sn_x基热电材料 | 第47-62页 |
| ·实验方法 | 第47页 |
| ·La_(0.005)Mg_(1.995)Si_(1-x)Sn_(x-0.01)Bi_(0.01)热电材料 | 第47-55页 |
| ·La_(0.005)Mg_(1.995)Si_(1-x)Sn_(x-0.01)Bi_(0.01)物相、微观结构分析 | 第47-50页 |
| ·La_(0.005)Mg_(1.995)Si_(1-x)Sn_(x-0.01)Bi_(0.01)的热电性能 | 第50-55页 |
| ·La_(0.01)Mg_(1.99)Si_(1-x)Sn_(x-0.01)Bi_(0.01)热电材料 | 第55-61页 |
| ·La_(0.01)Mg_(1.99)Si_(1-x)Sn_(x-0.01)Bi_(0.01)热电材料的物相分析 | 第55-56页 |
| ·La_(0.01)Mg_(1.99)Si_(1-x)Sn_(x-0.01)Bi_(0.01)热电材料的热电性能 | 第56-61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 第6章 总结与展望 | 第62-64页 |
| ·总结 | 第62-63页 |
| ·SiyGe1-y体系 | 第62页 |
| ·Mg_2Si_(1-x)Sn_x体系 | 第62-63页 |
| ·展望 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-68页 |
| 附录 | 第68页 |
