摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-11页 |
第1章 绪论 | 第11-27页 |
·等离子体 | 第11-14页 |
·等离子体概述 | 第11-12页 |
·等离子体产生 | 第12-13页 |
·等离子体分类 | 第13-14页 |
·低温等离子体 | 第14-16页 |
·低温等离子体概述 | 第14页 |
·低温等离子体分类 | 第14-15页 |
·低温等离子体的单元反应及其应用 | 第15-16页 |
·介质阻挡放电(DBD)低温等离子体 | 第16-23页 |
·介质阻挡放电低温等离子体概述 | 第16-18页 |
·DBD在分析化学中的应用 | 第18-23页 |
·蒸气发生进样 | 第23-25页 |
·冷蒸气发生 | 第23页 |
·氢化物发生 | 第23-24页 |
·光化学蒸气发生 | 第24-25页 |
·论文选题思路及研究内容 | 第25-27页 |
第2章 介质阻挡放电等离子体激发-发射光谱测定痕量碘 | 第27-41页 |
·引言 | 第27页 |
·实验部分 | 第27-31页 |
·实验试剂 | 第27-28页 |
·溶液配制及样品预处理 | 第28-29页 |
·仪器和实验装置 | 第29-30页 |
·操作过程 | 第30-31页 |
·结果与讨论 | 第31-39页 |
·碘分析线的选择 | 第31-32页 |
·消除DBD背景发射光谱的波动 | 第32-33页 |
·碘在DBD低温等离子体中的激发与发射 | 第33-34页 |
·碘的蒸气发生 | 第34-35页 |
·IO_3~-的预还原及其测定 | 第35-37页 |
·共存离子影响 | 第37页 |
·DBD-OES测定碘的分析性能 | 第37-38页 |
·实际应用 | 第38-39页 |
·本章小结 | 第39-41页 |
第3章 介质阻挡放电等离子体激发-发射光谱测定痕量镍 | 第41-55页 |
·引言 | 第41-42页 |
·实验部分 | 第42-45页 |
·实验试剂 | 第42页 |
·溶液配制及样品预处理 | 第42页 |
·仪器和实验装置 | 第42-44页 |
·操作过程 | 第44-45页 |
·结果与讨论 | 第45-53页 |
·镍分析线的选择 | 第45-46页 |
·消除DBD背景发射光谱的波动 | 第46页 |
·镍在DBD低温等离子体中的激发与发射 | 第46-48页 |
·光催化Ni(CO)_4发生反应条件研究 | 第48-49页 |
·Ni(CO)_4蒸气发生及其效率测定 | 第49-50页 |
·共存离子影响 | 第50-51页 |
·DBD-OES测定镍的分析性能 | 第51-52页 |
·实际应用 | 第52-53页 |
·本章小结 | 第53-55页 |
第4章 结论 | 第55-57页 |
参考文献 | 第57-67页 |
致谢 | 第67-69页 |
攻读硕士学位期间发表论文 | 第69页 |