短路关键面积提取与缩小方法研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-12页 |
| ·引言 | 第8-9页 |
| ·本课题的研究意义 | 第9-10页 |
| ·本文研究内容 | 第10-11页 |
| ·本文内容安排 | 第11-12页 |
| 第二章 短路关键面积介绍 | 第12-22页 |
| ·工艺缺陷 | 第12-16页 |
| ·冗余物缺陷 | 第12-14页 |
| ·丢失物缺陷 | 第14-15页 |
| ·氧化物针孔缺陷和结泄漏缺陷 | 第15-16页 |
| ·短路关键面积含义 | 第16-17页 |
| ·短路关键面积的模型 | 第17-20页 |
| ·短路关键面积的基础模型 | 第17-18页 |
| ·短路关键面积基础模型的改进模型 | 第18-19页 |
| ·考虑缺陷特征分布的短路关键面积的模型 | 第19-20页 |
| ·本章小结 | 第20-22页 |
| 第三章 短路关键面积存储方式研究 | 第22-38页 |
| ·短路关键面积提取方法 | 第22-27页 |
| ·Monte Carlo 方法 | 第22页 |
| ·多边形算子方法 | 第22-23页 |
| ·Voronoi 图方法 | 第23页 |
| ·数学形态学方法 | 第23-27页 |
| ·图的相关理论 | 第27-31页 |
| ·图的定义 | 第28-29页 |
| ·图的存储结构 | 第29-31页 |
| ·短路关键面积邻接矩阵存储方法 | 第31-33页 |
| ·带权图的邻接矩阵存储结构 | 第31-32页 |
| ·短路关键面积邻接矩阵存储方法 | 第32-33页 |
| ·短路关键面积存储改进方法 | 第33-36页 |
| ·带权图的邻接表存储结构 | 第33-34页 |
| ·短路关键面积改进存储方法 | 第34-35页 |
| ·短路关键面积改进存储方法的实现 | 第35-36页 |
| ·存储方式性能比较 | 第36页 |
| ·本章小结 | 第36-38页 |
| 第四章 短路关键面积缩小算法研究 | 第38-52页 |
| ·短路关键面积缩小算法理论依据 | 第38-40页 |
| ·图像的基本组成 | 第38-39页 |
| ·膨胀算法原理 | 第39-40页 |
| ·短路关键面积缩小算法介绍 | 第40-44页 |
| ·短路关键面积缩小算法介绍 | 第40-42页 |
| ·可移动空间算法 | 第42-44页 |
| ·短路关键面积缩小算法实现 | 第44-50页 |
| ·可移动空间试探法 | 第44-46页 |
| ·可移动距离中值法 | 第46-50页 |
| ·两种实现方法分析 | 第50页 |
| ·本章小结 | 第50-52页 |
| 第五章 基于 COE 网的短路关键面积缩小算法 | 第52-66页 |
| ·COE 网 | 第52-54页 |
| ·COE 网的概念 | 第52-53页 |
| ·COE 网的特性 | 第53-54页 |
| ·关键路径 | 第54-56页 |
| ·基本概念介绍 | 第55页 |
| ·关键路径的构成 | 第55-56页 |
| ·关键路径的提取 | 第56-60页 |
| ·虚拟顶点的设置 | 第56页 |
| ·提取关键路径 | 第56-60页 |
| ·基于 COE 网的短路关键面积缩小方法 | 第60-64页 |
| ·本章小结 | 第64-66页 |
| 第六章 总结与展望 | 第66-68页 |
| 致谢 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-74页 |
| 研究生期间研究成果 | 第74-75页 |
