| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-35页 |
| 本章摘要 | 第13页 |
| ·研究背景与意义 | 第13-17页 |
| ·薄层材料对现代工业产生巨大影响 | 第13-15页 |
| ·无损定征是薄层材料发展和应用的基石 | 第15-16页 |
| ·赋予多参量一体化定征能力是薄层材料定征的追求目标 | 第16-17页 |
| ·薄层材料无损定征技术研究现状及其发展趋势 | 第17-24页 |
| ·无损检测方法不断涌现,定征手段日益分丰富 | 第17-19页 |
| ·超声无损检测技术深入应用,多参量一体化定征成为可能 | 第19-23页 |
| ·超声显微能力逐步提升,精细化定征长足发展 | 第23-24页 |
| ·基于超声显微镜的薄层材料定征技术具有巨大的发展潜力 | 第24-29页 |
| ·基于窄频超声显微镜的薄层材料定征技术研究现状 | 第24-28页 |
| ·基于脉冲超声显微镜的薄层材料定征技术研究现状 | 第28-29页 |
| ·本文主要研究内容及其章节安排 | 第29-35页 |
| 第二章 任意分层结构的声反射系数计算理论 | 第35-55页 |
| 本章摘要 | 第35页 |
| ·引言 | 第35-36页 |
| ·任意分层结构的垂直入射声反射系数计算理论 | 第36-44页 |
| ·垂直入射声波在分界面上的反射与透射 | 第36-38页 |
| ·任意分层结构的垂直入射声反射系数计算 | 第38-44页 |
| ·任意分层结构的斜入射声反射系数计算理论 | 第44-53页 |
| ·传统Thomson-Haskell算法及其局限性分析 | 第44-48页 |
| ·改进型Thomson-Haskell算法 | 第48-49页 |
| ·任意分层结构的斜入射声反射系数计算 | 第49-51页 |
| ·计算仿真研究 | 第51-53页 |
| ·本章小结 | 第53-55页 |
| 第三章 基于脉冲超声显微镜的二维声反射系数测量技术 | 第55-71页 |
| 本章摘要 | 第55页 |
| ·引言 | 第55-56页 |
| ·基于脉冲超声显微镜的二维声反射系数测量技术 | 第56-63页 |
| ·声反射系数测量理论模型的建立 | 第56-58页 |
| ·空间采样步距△z的确定 | 第58-59页 |
| ·扫描超声显微镜的研发 | 第59-63页 |
| ·实验研究 | 第63-70页 |
| ·本章小结 | 第70-71页 |
| 第四章 基于垂直入射超声反射系数谱的薄层材料多参量一体化定征技术 | 第71-85页 |
| 本章摘要 | 第71页 |
| ·引言 | 第71-72页 |
| ·基于垂直入射超声反射系数谱的薄层材料多参量一体化定征技术 | 第72-79页 |
| ·基于声反射系数谱拟合优化的定征参量反演算法 | 第72-76页 |
| ·采用聚焦声波实现薄层材料厚度的测量 | 第76-78页 |
| ·利用聚焦声波实现垂直入射声反射系数谱的测量 | 第78-79页 |
| ·实验研究 | 第79-84页 |
| ·本章小结 | 第84-85页 |
| 第五章 基于双入射角超声反射系数谱的薄层材料多参量一体化定征技术 | 第85-97页 |
| 本章摘要 | 第85页 |
| ·引言 | 第85-86页 |
| ·基于双入射角超声反射系数谱的薄层材料多参量一体化定征技术 | 第86-89页 |
| ·基于双入射角超声反射系数谱拟合优化的定征参量反演算法 | 第86-89页 |
| ·利用聚焦声波实现垂直和斜入射声反射系数谱的测量 | 第89页 |
| ·参数灵敏性和稳定性分析 | 第89-92页 |
| ·反射系数谱对薄层材料参数的灵敏性分析 | 第89-91页 |
| ·稳定性分析 | 第91-92页 |
| ·实验研究 | 第92-95页 |
| ·本章总结 | 第95-97页 |
| 第六章 结论与展望 | 第97-101页 |
| ·本文结论 | 第97-99页 |
| ·研究展望 | 第99-101页 |
| 参考文献 | 第101-113页 |
| 致谢 | 第113-115页 |
| 攻读博士学位期间的研究成果 | 第115页 |
