多晶硅薄膜晶体管的串联电阻模型
| 中文摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-20页 |
| ·平板显示技术 | 第8-11页 |
| ·液晶显示器 | 第8-9页 |
| ·有机发光显示器 | 第9-10页 |
| ·等离子显示器 | 第10-11页 |
| ·多晶硅 TFT 概论 | 第11-14页 |
| ·多晶硅 TFT 技术的优点 | 第11页 |
| ·多晶硅 TFT 结构 | 第11-12页 |
| ·低温多晶硅 TFT 制造工艺简介 | 第12-14页 |
| ·实验样品的制备及测试仪器 | 第14-18页 |
| ·多晶硅薄膜晶体管的制备 | 第14-16页 |
| ·实验测试仪器 | 第16-18页 |
| 参考文献 | 第18-20页 |
| 第二章 串联电阻模型的研究现状 | 第20-32页 |
| ·Rs模型研究进展综述 | 第20-22页 |
| ·非晶硅中的 Rs模型 | 第22-23页 |
| ·MOSFET 中的 Rs模型 | 第23-29页 |
| ·MOSFET 串联结构的 Rs模型 | 第23-26页 |
| ·MOSFET 并联结构的 Rs模型 | 第26-29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 参考文献 | 第30-32页 |
| 第三章 多晶硅 TFT 的串联电阻模型 | 第32-60页 |
| ·Rs的构成 | 第32页 |
| ·多晶硅的晶粒间界势垒模型 | 第32-39页 |
| ·多晶硅的晶粒间界缺陷 | 第32-33页 |
| ·多晶硅的晶粒间界势垒对载流子迁移率的调制 | 第33-39页 |
| ·Rs模型的推导 | 第39-42页 |
| ·Rs提取方法 | 第42-44页 |
| ·实验结果与模型的验证 | 第44-51页 |
| ·实验结果的比较 | 第44-46页 |
| ·模型参数的合理性验证 | 第46-51页 |
| ·模型的优化与解析表达式 | 第51-55页 |
| ·模型的优化 | 第51-53页 |
| ·串联电阻的解析表达式 | 第53-55页 |
| ·减小串联电阻的方法 | 第55-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-60页 |
| 第四章 结论及未来工作 | 第60-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |