双聚焦质谱仪的设计与研究
摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-9页 |
第1章 绪论 | 第9-15页 |
·课题背景及来源 | 第9-10页 |
·质谱理论和质谱技术的发展 | 第10-13页 |
·磁偏转式质谱仪 | 第11页 |
·飞行时间质谱仪 | 第11页 |
·四级杆式质谱仪 | 第11-12页 |
·离子阱质谱仪 | 第12-13页 |
·研究对象 | 第13页 |
·研究的意义 | 第13页 |
·研究的应用前景 | 第13-14页 |
·研究内容 | 第14-15页 |
第2章 双聚焦质谱仪器的原理和性能参数 | 第15-22页 |
·双聚焦质谱仪结构和原理 | 第15-18页 |
·质谱仪的性能指标 | 第18-21页 |
·离子束散角 | 第18页 |
·质量色散 | 第18页 |
·质量范围 | 第18页 |
·分辨本领 | 第18-19页 |
·质量色散系数和能量色散系数 | 第19-20页 |
·灵敏度 | 第20-21页 |
·检出限 | 第21页 |
·小结 | 第21-22页 |
第3章 双聚焦质谱仪的光学计算和结构设计 | 第22-53页 |
·离子源 | 第22-31页 |
·离子源的结构 | 第23-28页 |
·离子源光学系统 | 第28-31页 |
·磁场质量分析器 | 第31-41页 |
·磁场总体参数的设定 | 第32-34页 |
·磁分析器部件的设计 | 第34-41页 |
·静电场能量分析器 | 第41-48页 |
·径向场静电分析器原理 | 第41-45页 |
·静电场分析器参数的设计 | 第45-48页 |
·离子接收器 | 第48-52页 |
·法拉第筒接收器 | 第49页 |
·二次电子倍增器 | 第49-52页 |
·小结 | 第52-53页 |
第4章 双聚焦质谱仪离子飞行轨迹仿真 | 第53-72页 |
·静电透镜软件simion8.0 | 第53-55页 |
·离子源的模拟 | 第55-63页 |
·离子源的simion模型和影响参数 | 第56-59页 |
·模拟分析结果及讨论 | 第59-63页 |
·磁场分析器的模拟 | 第63-65页 |
·静电能量分析器的模拟 | 第65-67页 |
·双聚焦仪器的模拟 | 第67-71页 |
·双聚焦的条件 | 第67-68页 |
·双聚焦的simion模拟 | 第68-71页 |
·小结 | 第71-72页 |
第5章 总结 | 第72-73页 |
参考文献 | 第73-76页 |
致谢 | 第76页 |