| 摘要 | 第1-8页 |
| ABSTRACT | 第8-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-24页 |
| ·引言 | 第14-15页 |
| ·半导体基本知识 | 第15-18页 |
| ·ZnO 的基本结构 | 第16-17页 |
| ·ZnO 的缺陷及掺杂其对发光的影响 | 第17-18页 |
| ·材料微观结构研究工具 | 第18-19页 |
| ·常规研究工具 | 第18-19页 |
| ·同步辐射技术 | 第19页 |
| ·课题意义 | 第19-22页 |
| 参考文献 | 第22-24页 |
| 第二章 XAFS 基本理论 | 第24-51页 |
| ·背景介绍 | 第24页 |
| ·X 射线与物质的相互作用 | 第24-27页 |
| ·X 射线吸收 | 第24-26页 |
| ·X 射线的衰减和吸收，吸收系数 | 第26-27页 |
| ·X 射线的散射 | 第27页 |
| ·XAFS 定义 | 第27-31页 |
| ·XAFS 产生机理 | 第27-31页 |
| ·EXAFS 简介 | 第31-37页 |
| ·EXAFS 的特点 | 第31页 |
| ·EXAFS 基本公式 | 第31-32页 |
| ·EXAFS 的数据处理步骤 | 第32-37页 |
| ·数据处理软件 | 第37-43页 |
| ·XANES 简介 | 第43-47页 |
| ·XANES 的理论发展 | 第43-45页 |
| ·XANES 的特点 | 第45页 |
| ·K 边的位置及形状 | 第45-46页 |
| ·XANES 的数据处理 | 第46-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 参考文献 | 第48-51页 |
| 第三章 实验研究方法 | 第51-69页 |
| ·实验材料 | 第51页 |
| ·实验仪器 | 第51-53页 |
| ·XRD 实验 | 第51页 |
| ·XPS 实验 | 第51-52页 |
| ·同步辐射实验 | 第52-53页 |
| ·XAFS 的实验技术 | 第53-56页 |
| ·透射法 | 第54-55页 |
| ·荧光法 | 第55-56页 |
| ·实验步骤 | 第56-57页 |
| ·EXAFS 应用实例 | 第57-68页 |
| 参考文献 | 第68-69页 |
| 第四章 不同温度系列ZNO 的数据处理 | 第69-84页 |
| ·不同温度系列 ZNO 的XRD 谱 | 第69页 |
| ·XPS 实验 | 第69-70页 |
| ·不同温度系列ZNO 的微观结构分析 | 第70-82页 |
| ·ZnO 的晶体结构参数 | 第70-71页 |
| ·不同ZnO 样品的EXAFS 数据处理 | 第71-73页 |
| ·不同ZnO 样品的EXAFS 拟合 | 第73-82页 |
| ·本章小结 | 第82-83页 |
| 参考文献 | 第83-84页 |
| 第五章 ZNO 的XANES 计算模拟 | 第84-92页 |
| ·XANES 理论计算谱应用 | 第84-86页 |
| ·ZNO 的ZN 的实验XANES 吸收谱 | 第86-88页 |
| ·原子簇大小对ZNO 的ZN 的XANES 谱影响 | 第88-89页 |
| ·空位缺陷对ZNO 的ZN 的XANES 谱影响 | 第89-90页 |
| ·本章小结 | 第90-91页 |
| 参考文献 | 第91-92页 |
| 第六章 结论 | 第92-94页 |
| ·工作总结 | 第92-93页 |
| ·存在的问题及未来的工作 | 第93-94页 |
| 致谢 | 第94-95页 |
| 硕士期间发表文章 | 第95页 |