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SoC测试资源优化方法研究

摘要第1-7页
Abstract第7-13页
第1章 绪论第13-25页
   ·课题背景及研究的意义第13-16页
     ·芯片设计规模第13页
     ·SoC测试复杂性第13-14页
     ·SoC测试费用第14-15页
     ·SoC测试面临的问题第15-16页
     ·SoC测试资源优化的意义第16页
   ·SoC测试第16-22页
     ·基于核的SoC测试第16-18页
     ·SoC测试遇到的问题第18-19页
     ·SoC测试结构设计第19-20页
     ·SoC测试标准第20-22页
   ·论文的主要工作和内容安排第22-25页
     ·论文的主要工作第22-23页
     ·论文结构第23-25页
第2章 SoC测试资源优化综述第25-41页
   ·SoC测试压缩第25-35页
     ·测试激励压缩方法第26-33页
     ·测试响应压缩方法第33-34页
     ·SoC测试压缩研究评述第34-35页
   ·SoC测试调度第35-38页
     ·SoC测试调度的目标第35-36页
     ·SoC测试调度研究现状第36-37页
     ·SoC测试调度研究评述第37-38页
   ·低功耗SoC测试第38-40页
     ·测试功耗增加的原因第38页
     ·低功耗设计方法第38-39页
     ·低功耗设计评述第39-40页
   ·本章小结第40-41页
第3章 SoC测试压缩方法第41-63页
   ·SoC测试压缩第41-42页
     ·SoC测试压缩原理第41页
     ·SoC测试压缩的算法要求第41-42页
   ·基于重叠向量变游程编码的二级SoC测试压缩第42-50页
     ·重叠向量生成算法第43-45页
     ·解压结构设计第45-47页
     ·硬件开销分析第47-48页
     ·实验数据分析第48-50页
   ·基于测试响应复用的SoC测试压缩STC-TR第50-61页
     ·算法STC-TR描述第51-53页
     ·SoC核间并行测试算法第53-57页
     ·测试集优化算法第57-60页
     ·实验数据分析第60-61页
   ·本章小结第61-63页
第4章 SoC测试调度方法第63-89页
   ·基于测试响应复用的SoC测试调度第63-67页
     ·考虑功耗的基于测试响应复用的SoC测试调度第63-64页
     ·基于层次聚类的测试调度算法STS-HC第64-66页
     ·实验数据分析第66-67页
   ·基于进程代数的SoC测试调度STS-ACSR第67-78页
     ·进程代数基本理论第67-69页
     ·时间标记变迁系统模型TLTS第69-71页
     ·SoC测试调度的进程代数模型STS-ACSR第71-73页
     ·SoC测试调度的ACSR模型及算法第73-76页
     ·实验数据分析第76-78页
   ·基于蚁群优化的多时钟域SoC测试调度MDS-ACO第78-88页
     ·蚁群优化(ACO)原理第80-83页
     ·MDS资源约束图的构建第83-84页
     ·MDS-ACO算法实现第84-86页
     ·实验数据分析第86-88页
   ·本章小结第88-89页
第5章 低功耗SoC测试方法第89-103页
   ·SoC的测试功耗第89-91页
     ·SoC的能量和功耗模型第89-90页
     ·过量测试功耗引发的问题第90页
     ·测试功耗最小化的意义第90-91页
   ·低功耗外部测试技术第91-93页
   ·低功耗BIST技术第93-96页
   ·基于蚁群算法的向量排序技术TVO-ACO第96-100页
     ·蚁群算法ACO原理第96页
     ·基于蚁群算法的向量排序TVO-ACO第96-97页
     ·算法TVO-ACO的实现第97-98页
     ·实验数据分析第98-100页
   ·SoC测试资源优化实例研究第100-102页
     ·实验数据分析第100-102页
   ·本章小结第102-103页
结论第103-106页
参考文献第106-119页
攻读博士学位期间发表的论文和取得的科研成果第119-120页
致谢第120页

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