摘要 | 第1-7页 |
Abstract | 第7-13页 |
第1章 绪论 | 第13-25页 |
·课题背景及研究的意义 | 第13-16页 |
·芯片设计规模 | 第13页 |
·SoC测试复杂性 | 第13-14页 |
·SoC测试费用 | 第14-15页 |
·SoC测试面临的问题 | 第15-16页 |
·SoC测试资源优化的意义 | 第16页 |
·SoC测试 | 第16-22页 |
·基于核的SoC测试 | 第16-18页 |
·SoC测试遇到的问题 | 第18-19页 |
·SoC测试结构设计 | 第19-20页 |
·SoC测试标准 | 第20-22页 |
·论文的主要工作和内容安排 | 第22-25页 |
·论文的主要工作 | 第22-23页 |
·论文结构 | 第23-25页 |
第2章 SoC测试资源优化综述 | 第25-41页 |
·SoC测试压缩 | 第25-35页 |
·测试激励压缩方法 | 第26-33页 |
·测试响应压缩方法 | 第33-34页 |
·SoC测试压缩研究评述 | 第34-35页 |
·SoC测试调度 | 第35-38页 |
·SoC测试调度的目标 | 第35-36页 |
·SoC测试调度研究现状 | 第36-37页 |
·SoC测试调度研究评述 | 第37-38页 |
·低功耗SoC测试 | 第38-40页 |
·测试功耗增加的原因 | 第38页 |
·低功耗设计方法 | 第38-39页 |
·低功耗设计评述 | 第39-40页 |
·本章小结 | 第40-41页 |
第3章 SoC测试压缩方法 | 第41-63页 |
·SoC测试压缩 | 第41-42页 |
·SoC测试压缩原理 | 第41页 |
·SoC测试压缩的算法要求 | 第41-42页 |
·基于重叠向量变游程编码的二级SoC测试压缩 | 第42-50页 |
·重叠向量生成算法 | 第43-45页 |
·解压结构设计 | 第45-47页 |
·硬件开销分析 | 第47-48页 |
·实验数据分析 | 第48-50页 |
·基于测试响应复用的SoC测试压缩STC-TR | 第50-61页 |
·算法STC-TR描述 | 第51-53页 |
·SoC核间并行测试算法 | 第53-57页 |
·测试集优化算法 | 第57-60页 |
·实验数据分析 | 第60-61页 |
·本章小结 | 第61-63页 |
第4章 SoC测试调度方法 | 第63-89页 |
·基于测试响应复用的SoC测试调度 | 第63-67页 |
·考虑功耗的基于测试响应复用的SoC测试调度 | 第63-64页 |
·基于层次聚类的测试调度算法STS-HC | 第64-66页 |
·实验数据分析 | 第66-67页 |
·基于进程代数的SoC测试调度STS-ACSR | 第67-78页 |
·进程代数基本理论 | 第67-69页 |
·时间标记变迁系统模型TLTS | 第69-71页 |
·SoC测试调度的进程代数模型STS-ACSR | 第71-73页 |
·SoC测试调度的ACSR模型及算法 | 第73-76页 |
·实验数据分析 | 第76-78页 |
·基于蚁群优化的多时钟域SoC测试调度MDS-ACO | 第78-88页 |
·蚁群优化(ACO)原理 | 第80-83页 |
·MDS资源约束图的构建 | 第83-84页 |
·MDS-ACO算法实现 | 第84-86页 |
·实验数据分析 | 第86-88页 |
·本章小结 | 第88-89页 |
第5章 低功耗SoC测试方法 | 第89-103页 |
·SoC的测试功耗 | 第89-91页 |
·SoC的能量和功耗模型 | 第89-90页 |
·过量测试功耗引发的问题 | 第90页 |
·测试功耗最小化的意义 | 第90-91页 |
·低功耗外部测试技术 | 第91-93页 |
·低功耗BIST技术 | 第93-96页 |
·基于蚁群算法的向量排序技术TVO-ACO | 第96-100页 |
·蚁群算法ACO原理 | 第96页 |
·基于蚁群算法的向量排序TVO-ACO | 第96-97页 |
·算法TVO-ACO的实现 | 第97-98页 |
·实验数据分析 | 第98-100页 |
·SoC测试资源优化实例研究 | 第100-102页 |
·实验数据分析 | 第100-102页 |
·本章小结 | 第102-103页 |
结论 | 第103-106页 |
参考文献 | 第106-119页 |
攻读博士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第119-120页 |
致谢 | 第120页 |