数字电路内建自测试方法的研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第1章 绪论 | 第7-12页 |
| ·数字电路测试的研究目的和意义 | 第7-8页 |
| ·数字电路测试的发展与研究现状 | 第8-10页 |
| ·自动测试向量生成技术的发展现状 | 第8-9页 |
| ·可测性设计和内建自测试的发展现状 | 第9-10页 |
| ·课题的来源与意义 | 第10-11页 |
| ·主要研究内容 | 第11-12页 |
| 第2章 数字电路测试的基本理论 | 第12-28页 |
| ·故障类型与故障建模 | 第12-15页 |
| ·单固定型故障 | 第12-13页 |
| ·多固定型故障 | 第13-14页 |
| ·桥接故障 | 第14页 |
| ·故障等价与压缩 | 第14-15页 |
| ·故障模拟 | 第15-18页 |
| ·串行故障模拟 | 第17页 |
| ·并行故障模拟 | 第17页 |
| ·演绎故障模拟 | 第17-18页 |
| ·自动测试向量生成方法的研究 | 第18-27页 |
| ·ATPG方法的分类 | 第18-20页 |
| ·组合电路测试向量生成算法 | 第20-23页 |
| ·时序电路测试向量生成算法 | 第23-27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 第3章 内建自测试的矢量生成方法研究 | 第28-45页 |
| ·内建自测试总体设计方案 | 第28-30页 |
| ·伪随机序列生成电路 | 第30-37页 |
| ·LFSR序列与反馈多项式的关系 | 第31-33页 |
| ·LFSR产生序列的特性 | 第33-35页 |
| ·设计伪随机序列发生电路 | 第35-37页 |
| ·LFSR重新播种 | 第37-44页 |
| ·播种方法介绍 | 第37-39页 |
| ·确定性算法生成测试矢量 | 第39-40页 |
| ·BIST矢量生成模块的设计 | 第40-44页 |
| ·本章小结 | 第44-45页 |
| 第4章 内建自测试的响应分析方法研究 | 第45-59页 |
| ·响应数据压缩 | 第45-48页 |
| ·奇偶压缩 | 第45-46页 |
| ·1 计数压缩 | 第46-47页 |
| ·跳变次数压缩 | 第47-48页 |
| ·特征分析压缩法 | 第48-54页 |
| ·特征分析原理 | 第48-50页 |
| ·串行输入特征寄存器 | 第50-51页 |
| ·多输入的特征分析 | 第51-54页 |
| ·基于细胞免疫机理的响应分析法 | 第54-58页 |
| ·细胞免疫机理介绍 | 第54页 |
| ·细胞免疫响应分析法 | 第54-56页 |
| ·故障字典 | 第56-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 第5章 电路测试试验与结果分析 | 第59-70页 |
| ·标准电路 | 第59-61页 |
| ·故障模拟的实现 | 第61-64页 |
| ·实验结果分析 | 第64-69页 |
| ·确定性算法测试结果 | 第65-66页 |
| ·内建自测试试验结果分析 | 第66-69页 |
| ·本章小结 | 第69-70页 |
| 结论 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-75页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第75-77页 |
| 致谢 | 第77页 |
