| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 北京正负电子对撞机和北京谱仪的升级改造 | 第7-17页 |
| ·物理目标 | 第7-8页 |
| ·北京正负电子对撞机的升级改造 | 第8-12页 |
| ·北京谱仪(BESII) | 第12-14页 |
| ·北京谱仪(BESIII)的升级改造 | 第14-17页 |
| 第二章 北京谱仪(BESIII)中的电磁量能器 | 第17-26页 |
| ·概述 | 第17-21页 |
| ·BESIII中的电磁量能器 | 第21-26页 |
| ·晶体的选择 | 第21-23页 |
| ·读出电子学系统 | 第23页 |
| ·量能器的基本构造 | 第23-26页 |
| 第三章 Cerenkov(切伦科夫) MC 模拟与束损探测器 | 第26-48页 |
| ·概述 | 第26页 |
| ·Cerenkov 光的产生原理与特点 | 第26-32页 |
| ·Cerenkov 光的产生 | 第26-29页 |
| ·切伦科夫辐射光谱及光子密度分布 | 第29-31页 |
| ·切伦科夫辐射的发光时间 | 第31-32页 |
| ·切伦科夫光的 MC 模拟 | 第32-38页 |
| ·束损 Cerenkov 探测器 | 第38-48页 |
| ·探测器结构 | 第38页 |
| ·束损 Cerenkov 探测器制作原理与工作过程 | 第38-48页 |
| 第四章 BESIII 量能器 LED 光脉冲监测系统中的混光器研究 | 第48-60页 |
| ·概述 | 第48页 |
| ·量能器光脉冲监测系统的方案介绍 | 第48-50页 |
| ·光学均匀器性能的测试 | 第50-60页 |
| ·光纤束均匀性检测装置 | 第51页 |
| ·光纤束均匀性检测结果 | 第51-52页 |
| ·混光器改进 | 第52-55页 |
| ·用新混光器测光纤束均匀性 | 第55-56页 |
| ·不用混光器光脉冲监测系统的光均匀性和稳定性 | 第56-57页 |
| ·用混光器后光脉冲监测系统的光均匀性和稳定性 | 第57-58页 |
| ·用混光器后各路光纤均匀性和稳定性的统计分布 | 第58-60页 |
| 第五章 BESIII 量能器 CsI(Tl) 晶体读出硅光二极管的检测 | 第60-67页 |
| ·概述 | 第60-61页 |
| ·PD 的重要参量检测 | 第61-66页 |
| ·暗电流测量 | 第61-62页 |
| ·PD 的结电容测量 | 第62-64页 |
| ·PD 的老化 | 第64-65页 |
| ·PD 的光电转换效率的测量 | 第65-66页 |
| ·PD 分类与测量结果 | 第66-67页 |
| 第六章 前置放大器检测 | 第67-72页 |
| ·前言 | 第67页 |
| ·检测的目的 | 第67页 |
| ·测量过程 | 第67-71页 |
| ·测量装置 | 第67-68页 |
| ·测量系统原理图 | 第68-71页 |
| ·测量原理与系统的刻度 | 第71-72页 |
| ·测量原理 | 第71页 |
| ·系统的刻度 | 第71-72页 |
| ·测量结果与进度 | 第72页 |
| 结论 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-74页 |
| 致谢 | 第74页 |
