| 内容提要 | 第1-8页 |
| §1 引言 | 第8-10页 |
| §2 常见随机数发生器 | 第10-31页 |
| §2.1 早期的随机数发生器 | 第10-12页 |
| §2.1.1 查询随机数表法 | 第10-11页 |
| §2.1.2 阅读时钟方法 | 第11页 |
| §2.1.3 平方取中法 | 第11页 |
| §2.1.4 移位指令加法 | 第11-12页 |
| §2.1.5 Fibonacci发生器 | 第12页 |
| §2.1.6 延迟Fibonacci发生器 | 第12页 |
| §2.2 线性同余发生器(LCG) | 第12-21页 |
| §2.2.1 混合线性同余发生器(BLCG) | 第13-15页 |
| §2.2.2 乘线性同余法(积式发生器)(MLCG) | 第15-19页 |
| §2.2.3 素数模乘同余法(PMMLCG) | 第19页 |
| §2.2.4 多重递归同余发生器(MRG) | 第19-20页 |
| §2.2.5 矩阵同余发生器(MCG) | 第20-21页 |
| §2.3 非线性同余发生器(NLCG) | 第21-24页 |
| §2.3.1 逆同余发生器(ICG) | 第21-22页 |
| §2.3.2 二次(三次)同余发生器(QCG,CCG) | 第22页 |
| §2.3.3 BBS发生器 | 第22页 |
| §2.3.4 幂同余发生器(PCG) | 第22-23页 |
| §2.3.5 指数同余发生器 | 第23页 |
| §2.3.6 进位加(AWC)和借位减(SWB)发生器 | 第23-24页 |
| §2.4 位移寄存发生器 | 第24-27页 |
| §2.4.1 反馈位移寄存器(FSPG) | 第24-26页 |
| §2.4.2 Mersenne Twister发生器 | 第26-27页 |
| §2.5 混沌发生器 | 第27-29页 |
| §2.5.1 逻辑斯谛映射发生器 | 第28页 |
| §2.5.2 满抛物线映射随机数发生器 | 第28-29页 |
| §2.6 组合发生器 | 第29-30页 |
| §2.7 其他类型的发生器 | 第30-31页 |
| §2.7.1 小数开平方法 | 第30-31页 |
| §2.7.2 Kneading Map Generation | 第31页 |
| §3 随机数的统计检验 | 第31-44页 |
| §3.1 参数检验 | 第31-32页 |
| §3.2 均匀性检验 | 第32-33页 |
| §3.2.1 χ~2检验 | 第32-33页 |
| §3.2.2 KS检验 | 第33页 |
| §3.2.3 序列检验 | 第33页 |
| §3.3 独立性检验 | 第33-36页 |
| §3.3.1 相关系数检验Ⅰ | 第34页 |
| §3.3.2 相关系数检验Ⅱ | 第34页 |
| §3.3.3 列联表检验 | 第34-35页 |
| §3.3.4 游程检验 | 第35-36页 |
| §3.4 组合规律检验 | 第36-38页 |
| §3.4.1 扑克检验 | 第36-37页 |
| §3.4.2 配套检验 | 第37-38页 |
| §3.5 无连贯性检验 | 第38-39页 |
| §3.5.1 正负连检验 | 第38页 |
| §3.5.2 升降连检验 | 第38-39页 |
| §3.6 拟合优度检验 | 第39-43页 |
| §3.6.1 Greenwood统计量 | 第40页 |
| §3.6.2 基于期差的统计量 | 第40-41页 |
| §3.6.3 统计量U|- | 第41页 |
| §3.6.4 统计量∑logX_i | 第41-42页 |
| §3.6.5 光滑检验 | 第42-43页 |
| §3.6.6 联合检验 | 第43页 |
| §3.7 Birthday Spacings检验 | 第43-44页 |
| §4 常用的随机数发生器检验包 | 第44-46页 |
| §4.1 Diehard Tests | 第44-45页 |
| §4.2 TestU01 | 第45-46页 |
| §5 一种新型组合发生器的研究 | 第46-51页 |
| §6 结论 | 第51-54页 |
| 参考文献 | 第54-57页 |
| 中文摘要 | 第57-61页 |
| Abstract | 第61-65页 |
| 致谢 | 第65页 |
