光波导阵列电光扫描特性检测技术研究
摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-7页 |
第一章 绪论 | 第7-13页 |
·引言 | 第7-8页 |
·光学相控阵技术的发展 | 第8-10页 |
·光波导阵列电光扫描器的优势及应用 | 第10-11页 |
·本论文主要工作和内容 | 第11-13页 |
第二章 光波导阵列电光扫描器工作原理 | 第13-25页 |
·晶体的电光效应 | 第13-16页 |
·光波导阵列电光扫描器的工作原理 | 第16-21页 |
·光波导阵列电光扫描器的馈电方案 | 第21-25页 |
第三章 小波理论及图像消噪 | 第25-35页 |
·小波理论 | 第25-28页 |
·小波分析用于图像的降噪原理 | 第28-33页 |
·小波降噪的实验研究 | 第33-35页 |
第四章 基于PCI总线的图像采集卡硬件设计 | 第35-45页 |
·PCI总线协议 | 第35-39页 |
·PCI图像采集卡芯片选择 | 第39-42页 |
·PCI图像采集卡工作流程 | 第42-43页 |
·PCB设计注意事项及调试 | 第43-45页 |
第五章 光波导阵列电光扫描特性检测 | 第45-53页 |
·光波导阵列电光扫描的技术指标 | 第45页 |
·硅光电二极管检测方法的原理及实现 | 第45-49页 |
·基于CCD图像的检测方法实现 | 第49-53页 |
第六章 波导阵列电光扫描特性实验研究 | 第53-57页 |
第七章 总结 | 第57-59页 |
·本文的研究成果 | 第57页 |
·对未来工作建议 | 第57-59页 |
致谢 | 第59-61页 |
参考文献 | 第61-63页 |
在读期间研究成果 | 第63页 |